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基于MC/DC最小测试用例集设计方法研究 被引量:3
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作者 袁军 《航空电子技术》 2010年第3期51-54,共4页
动态测试主要是通过设计测试用例、开发和运行测试程序来发现软件中存在的错误。如何判断设计的测试用例是充分的,针对不同级别的软件,DO-178B规定了不同的结构覆盖标准。本文针对A级软件,给出一种适合MC/DC准则的最小测试用例集快速设... 动态测试主要是通过设计测试用例、开发和运行测试程序来发现软件中存在的错误。如何判断设计的测试用例是充分的,针对不同级别的软件,DO-178B规定了不同的结构覆盖标准。本文针对A级软件,给出一种适合MC/DC准则的最小测试用例集快速设计方法。针对一个判定中同一条件出现多次的复杂情形引起的两种不同用例设计思路,结合LDRATestbed覆盖分析结果,总结出合理的设计方法。 展开更多
关键词 DO-178B 改进条件/判定范围(MC/DC) 最小测试用例集
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