SRAM型FPGA单粒子翻转失效率自动测试系统设计与实现

在航天应用时,辐射易敏SRAM型FPGA因单粒子翻转导致的在轨失效率必须满足设计要求;针对该在轨失效率的地面测试预计难题,提出了一种基于单粒子翻转空时特性仿真的自动注入测试方案,通过静态翻转截面测试和失效错误比的动态注入测试两个步骤,得到FPGA加载不同应用时的动态翻转截面;提出失效映射函数的概念,对测试原理进行了合理性解释;引入了时间维恒定失效概率特性,提出了一种注入集缩减方法,在确保单粒子翻转空时特性仿真的真实性的基础上,加快了测试速度;与高能粒子束流实验的结果对比表明,该自动测试系统测试结果的可信度达到了90%左右。