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功率谱密度函数评价方法探讨 被引量：3
1
作者 徐芳 魏全忠 伍凡 《光学仪器》 2000年第3期21-24,共4页
高能量、高分辨力光学系统给传统的光学面形评价指标提出了新的要求。各项测试技术 ,信息理论的更新给我们的研究提供了可能。介绍采用
关键词 光学元件 功率谱密度函数 面形评价
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