X射线激发发射谱仪的研制

通过X射线管与光谱仪的组合,在对X射线管和光谱仪的选取、自动控制技术、数据采集和处理等多个环节进行系统论证的基础上,自行设计和研制了一台X射线激发发射谱仪。通过采用标准光源,对谱仪的波长和效率定标进行了重点研究,运用这一谱仪分别测量了BaF2和CsⅠ(Tl)等闪烁晶体的X射线激发发射谱。实验结果表明:该谱仪具有光谱分辨高、性能稳定、操作简便、屏蔽良好等特点,可为闪烁材料的探索和开发提供一种十分有效的研究手段。

X射线光电子能谱扩展新方法的研究

本文研究了表面分析技术－Ｘ射线光电子能谱扩展电子能谱的微小差别物种鉴定上的应用。建立在新型功能碳材料中碳元素的化学状态的分析方法。利用Ｘ射线电子能谱的指纹峰、Ｘ射线激发俄歇谱、变角Ｘ射线光电子谱技术对新型功能材料以及纳米器件的研究开发提供了导向信息．

两次全反射X射线荧光能谱分析仪的研制

文章概述自行研制的两次全反射ｘ射线荧光（ＴＸＲＦ）能谱分析仪的结构和性能。该谱仪使用与之配套而开发的ＳＰＡＮ／ＸＲＦＶ４．ｏｘ射线谱处理软件。实验测试结果表明：对原子序数Ｚ＞ｌ６的大部分元素的探测下限可达１０￣（－１０）ｇ。该能谱分析仪为测定动力堆乏燃料元件溶解液中的不溶残渣的化学元素而研制，但可推广用于痕量元素分析的诸多研究和应用领域。

椭圆型晶体谱仪谱测量的解谱

描述了椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统(EBCS-XCCD),研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法,推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体辐射X射线在某一波长光谱强度的公式,使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推,辨认出了激光等离子体X射线源能谱,并与文献[1]的结果进行了比较,结果基本一致。测试结果证实了解谱方法的可行性,表明X射线CCD相机适用于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录。在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下,可以获得X射线源光谱强度,为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化X射线激光研究奠定了基础。

能谱分析中应注意的几个问题

能谱分析中应注意的几个问题洪建明，赵晓宁（南京大学现代分析中心，南京２１００９３）Ｘ射线能量色散谱仪（ＥＤＳ）是材料科学研究中不可缺少的重要工具之一，特别在微区分析中已充分显示了它快速、准确的优越性。本文将简要谈谈ＥＤＳ在分析中应注意的几个问题。我室...

GaAs/GaAlAs光阴极的XPS深度剖析

GaAs光阴极是一种高性能光阴极,它由GaAs/GaAlAs外延片和玻璃基底粘接而成。为了了解外延片的元素深度分布和各层的均匀性,利用X射线光电子能谱和Ar离子刻蚀来进行深度剖析。结果表明,由于送样过程中曾短暂暴露大气,因而GaAs光阴极表面吸附有少量C、O污染,并且GaAs表层被氧化;GaAs层中的Ga、As元素含量非常均匀,约为3∶2,富Ga;而GaAlAs层中的Ga、Al和As含量比约为1∶1∶2,Ga略少于Al,但稍大于Ga0.42Al0.58As的比例。Ar离子枪采用3kV、1μA模式,刻蚀面积1 mm×1 mm,结合C-V测试得到的各层厚度数据,可以计算出该模式下各层的刻蚀速率,GaAs层的刻蚀速率约为1.091 nm/s,而GaAlAs层约为0.790 nm/s,并且推算出GaAs的溅射产额为4.00,GaAlAs的溅射产额为2.90。

粒子激发X射线谱仪月夜生存装置的热设计和热仿真计算

粒子激发X射线谱仪(APXS)安装在月面巡视器外部,为了适应月夜时段月面长时间的低温环境,设计了APXS专用的月夜生存装置来保证仪器长时间低温环境下的存储温度要求。该装置采用放射性同位素加热单元(RHU)作为热源,通过对APXS散热面持续不断的辐射加热,实现仪器的低温存储温度要求。由热仿真计算结果可知,月夜时段APXS的最低存储温度约为-103℃,计算结果高于其能够承受的最低存储温度,并且APXS热平衡试验校验了该热控设计的正确性。

X射线光电子能谱(XPS)

在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的.而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征.其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段.

透射式p型GaN(0001)光电阴极的表面洁净度及表征研究

在p型GaN(0001)光电阴极的化学腐蚀和高温热清洗的处理过程中,为了评价化学处理和热清洗的效果,利用X射线光电子谱分析了不同阶段的光电阴极表面状况。结果表明,开始处理前,表面存在严重的C、O污染,C的表面覆盖率接近2个单原子层,而O稍小于1个单原子层,并且表面生成Ga_2O_3氧化层。经2:2:1的H_2SO_4:H_2O_2:H_2O混合溶液化学腐蚀处理后,C的表面覆盖率为0.36个单原子层,O的覆盖率为0.21个单原子层,化学腐蚀去除了大部分的C、O污染,露出了体材料。700℃高温热处理后,表面的C覆盖率低于百分之一个单原子层,而O的覆盖率也仅为0.07个单原子层,基本去除了C、O污染,并且表面Ga:N比为1.01:1,达到体材料的理想配比。GaN光电阴极在H_2SO_4/H_2O_2混合溶液中腐蚀15 min并在700℃下真空热清洗30min后,可以有效去除C、O污染和氧化物,获得洁净表面,进行Cs-O激活后可以获得负电子亲和势。

BYF100-III型载流X射线荧光分析仪在厂坝铅锌矿的应用

本文论述了BYF-100 III型载流X射线荧光分析仪的技术改进和软件系统,论述了此应用系统的框架和特点,根据在厂坝铅锌矿的应用,提出了此系统应用和维护当中的一些问题。

X射线能谱仪在薄膜器件刻蚀中的应用

Ｘ射线能谱仪在薄膜器件刻蚀中的应用唐圣明，徐梅娣，陈思琴，林绥娟（中国科学院上海冶金研究所，上海２０００５０）铝钛酸铅［Ｐｂ（Ｔｉ，Ｚｒ）Ｏ＿３，简称ＰＺＴ］是一种新型的铁电薄膜材料，具有独特的电学，光学性能，有很广泛的应用价值。ＰＺＴ薄膜与器件的制...

高碱值磺酸镁清净剂的摩擦学性能研究

在四球实验机上研究了高碱值磺酸镁清净剂的摩擦学性能,采用扫描电子显微镜和光电子能谱仪对磨 斑的表面形貌和表面膜的元素组成进行了分析,探讨了高碱值磺酸镁的摩擦化学作用机理。结果表明:高碱 值磺酸镁的抗磨性能与其添加浓度有关,高浓度的高碱值磺酸镁具有良好的抗磨性能;这是由于在摩擦过程 中呈胶体分散的磺酸镁无机颗粒在摩擦副表面发生物理沉积和化学反应形成的保护膜能够有效地降低摩擦 副的磨损。

XPS对离子交换法光色玻璃中银的状态研究

本文介绍利用ｘ射线光电子能谱分析仪（ＸＰＳ），对玻璃表面银的存在状态进行研究，实验结果表明银以Ａｇ０、Ａｇ＋、Ａｇ（＋＋）三种状态存在，而Ａｇ＋的存在有利于玻璃光色性的提高。文中并提出了在工艺过程中应采用惰性或弱氧化性气氛。

X—射线能谱仪（VP—9900）高压变压器的修复

本文主要以荷兰飞利普公司生产的ＶＰ－９９００型Ｘ－射线能谱仪的高压变压器的修复为例，介绍了仪器中特殊变压器输出电压的确定及有关参数的计算。

类金刚石薄膜表面的氨基修饰

采用射频磁控溅射法在双面抛光Si(100)基片上制备了类金刚石薄膜,通过磁过滤等离子体化学气相沉积法,以N2、H2混合气体为反应溅射气体,对类金刚石薄膜样品表面进行氨基改性。傅立叶变换红外透射光谱(FT-IR)的结果表明,改性后的类金刚石薄膜上有C—NH2键存在;光电子能谱(XPS)的结果表明,改性后的薄膜表面含氮量约为8.92%,N1s的结合能出现在氨基对应的结合能范围内,表明类金刚石薄膜经过适当改性后可以在薄膜表面产生氨基。

Cu(In,Ga)Se_2薄膜组成表面分析准确测量国际关键比对

中国计量科学研究院参加了国际关键比对K129,采用X射线光电子能谱仪(XPS)建立了测量薄膜太阳能电池材料铜铟镓硒(CIGS)薄膜组成和深度成分分布的有效方法。采用合适的条件,对CIGS薄膜进行深度剖析,提出并完善了一套XPS深度剖析数据处理方法(全计数法和相对灵敏度因子法),对薄膜组成进行了准确测量。结果表明,该方法的测量重复性良好,5次测量的相对标准偏差(RSD)均小于2%,测量扩展不确定度优于4%,与其他国家计量院的结果取得等效一致。对比研究了不同灵敏度因子来源(由参考样品获得、仪器数据库的3种来源)对CIGS薄膜组成测量结果的影响,结果表明,仪器厂商数据库自修正的灵敏度因子最接近于参考样品,可较好地对CIGS薄膜进行原子含量测量。该方法可推广用于表面分析设备深度剖析薄膜样品时定量计算薄膜成分,提高测量薄膜成分的准确度,为薄膜太阳能电池材料研发和产业化提供参考依据。

XPS加宽函数的实验处理

介绍了两种XPS加宽函数的实验处理方法。结果表明谱图经过这样的处理后,分辨率大大提高。

新型角分辨XPS电子能谱仪

本文介绍了新型角分辨XPS电子能谱的构造、特点,及其应用。

现代X光电子能谱(XPS)分析技术

现代电子能谱仪有3个主要功能:单色XPS(Mono XPS)、小面积XPS(SAXPS)和成像XPS(iXPS),被认为是光电子能谱仪发展方向。本文介绍这3个功能突出的特点及在材料微分析方面的实际应用。

电镜硅锂X－射线能谱仪的制备及修理技术

第一套电镜Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测器已经制成，探测器包括灵敏面积为２０ｍｍ￣２Ｓｉ（Ｌｉ）晶体、低温场效应晶体管、光反馈前置放大器、具有７．５μ铍窗的低温装置和７．５升液氮杜瓦瓶。对￣（５５）Ｆｅ５．９ｋｅＶ射线，能量分辨率为１５２ｅＶ。此外报道ＴＲＡＣＯＲ电镜Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测器修理的结果，修理后能量分辨率为１４８ｅｖ，与原来的结果一样。每天正常的液氮消耗量少于１立升。