非衍生-气相色谱串级质谱法测定饲料中三聚氰胺

针对衍生化-气相色谱串联质谱(选择离子监测法)的操作繁琐费时、过程不易控制的状况,利用离子阱气相色谱质谱联用仪,建立了非衍生化-气相色谱串级质谱直接分析饲料中三聚氰胺的方法。利用三聚氰胺二级质谱进行定性,以二级质谱的特征离子峰m/z85进行定量,检测效率大大提高,定性更加直接。方法精密度为5.9%,回收率为87%～98%,满足饲料中三聚氰胺的检测要求。

高分辨率高灵敏度飞行时间质谱仪

本文讨论了提高飞行时间质谱仪的分辨率和灵敏度的基本问题，给出了仪器的结构设计。实验表明，其分辨率Ｒ＞２５００，灵敏度为３０Ａ／Ｐａ。

几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术

本文简要叙述法国CAMECA公司 ,德国IONTOFGmbH公司新型的NanoSIMS5 0IMSWFIMSSCUITRATOFSIMSIV型二次离子质谱的特色 ,着重介绍这些仪器改进过的和新增加的仪器部件的原理。

二次离子质谱学的进展

本文概括地介绍了二次离子质谱学的特点和发展,综述了基型SIMS仪器的最新进展和二次离子质谱学领域的拓宽,评述了SIMS定量分析的现状,讨论了发展与应用的关系,最后分析了我国二次离子质谱学的发展现状和前景。

MCs^+ -SIMS技术及其应用

强烈的基体效应一直是造成二次离子质谱（SIMS）难以定量分析和解释的主要原因。受其影响，常规SIMS，即M±－SIMS（检测原子型二次离子M＋或M－，M是要分析的元素）的适用范围受到了很大的限制。近几年来，上述状况已经通过一种新技术开发得到明显改善，这就是MCS＋－SIMS技术，即在CS＋一次离子轰击下检测分子型二次离子MCS＋而不是M±。由于该技术能明显减小甚至消除基体效应，从而开辟了SIMS定量分析的新途径。在综述MCS＋－SIMS技术的由来、发展、特点和应用以及MCS＋的生成机理的基础上，介绍了该技术的扩展思路。

三维四极离子阱的设计

介绍了三维四极离子阱的工作原理、结构特点和离子检测方法。讨论了设计要点并给出了设计实例。

二次离子质谱仪离子枪溅射速率的能量依赖关系

本文绘出了MIQ－56型SIMS仪器中离子枪溅射速率和一次束能量及扫描档次的数学表达式，并且通过实验测量加以证实；同时还得到了一次束直径和束流强度的线性关系，为SIMS实验参数选择提供了有力依据。

线性化校正方法试验研究

线性化校正方法是解决当载流X荧光分析仪工作状态发生变化造成品位分析模型精度下降或完全失去分析能力时,如何对元素目标强度值进行校正,使品位分析模型仍能继续使用的一种行之有效的手段。

原子团离子在Al_(x)Ga(1-x)As基体组分SIMS定量分析中的应用

通过检测原子团离于MCs+和MAs－（M是基体元素）对AlxGa1-xAs基体组分进行了定量的分析，考察了MIQ－156SIMS上所测这些原子团离子的能量分布及其对分析结果的影响，并对正、负SIMS测量方法做出比较。

用离子注入样品作标样检测离子探针灵敏度的探讨

本文概述了离子探针注入层杂质浓度的一般测量方法,分析了离子探针测量过程中影响得到其实际浓度分布的诸因素。探讨了利用离子注入深度分布样品作标样求检定离子探针仪器灵敏度指标时存在的问题及其解决方法。

我国成功研发二次离子质谱仪关键部件

【本刊讯】国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”不久前通过验收。通过该课题的实施，新建和完善了5个质谱仪器关键部件研发基地和10多个研究试验平台，培养了一批优秀的质谱仪器研发人员，为今后大型高端质谱仪器的自主研发奠定了基础。

新竹清华大学二次离子质谱技术的研发和应用

新竹清华大学位于台北市南方７０公里处，紧邻台湾矽半导体工业集中地之新竹科学工业园区。１９９１年新竹清华大学购入一台Ｃａｍｅｃａ ＩＭＳ－４ｆ二次离子质谱仪，为台湾地区第一部开放供学术研究和工业服务用之二次离子质谱仪。本论文报道如何建立二次离子质谱分析技术以符合各种不同的需求，包括人员训练、标准品制备、研发分析方法和仪器维修。应用二次离子质谱分析技术于基础和应用研究。