适用于研究低能裂变碎片电荷分布的探测器装置

为研究252Cf自发裂变碎片电荷分布,建立了由屏栅电离室和ΔE-E粒子望远镜构成的探测器系统。在该系统中,将薄的屏栅电离室作为碎片的ΔE探测器,E探测器是金硅面垒半导体探测器。通过分析实验测量的4参数关联数据,得到了252Cf自发裂变碎片质量数、动能及碎片在气体ΔE探测器中的能量沉积分布等物理量。用多高斯(multi-Gaussian)分布函数对ΔE探测器的能量响应函数进行最小二乘法拟合,得到了在固定质量数AL*和动能条件下轻碎片的电荷分布。结果表明:该探测器系统的电荷分辨能力Z/ΔZ约为40∶1;建立起来的测量技术可用于测定235U(n,f)和239Pu(n,f)反应碎片的电荷分布。

利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法测定^(79)Se的半衰期

利用加速器质谱学中的入射离子X射线方法(PX-AMS)对79Se的半衰期进行了测定。用这一直接测量79Se原子数的方法得到新的79Se半衰期为(2.80±0.36)×10~5a。利用同样的方法也测定了75Se的半衰期,75Se半衰期的测定结果显示利用PX-AMS方法对79Se半衰期的测定结果是可靠的。