用微波有源传感测量塑料薄膜厚度

频带反射腔控耿氏振荡器具有单调谐的特性,适于作为电量或非电量的有源传感器.本文介绍一种用于测量塑料薄膜厚度的腔控振荡器,频带反射腔用圆柱TE_(011)腔,工作在三公分波段,对于ε’_r≥2.0以上塑料薄膜,测量厚度的分辨率为±0.1μm,精度±0.75μm(开机半小时后,不进行零点校正),测量范围0～200μm.且可实现无接触测量,适于检验应用.

耐电晕PI薄膜及其耐电晕寿命评定方法的研究

本文主要研究适合变频电机使用的改性聚酸亚胺的耐电晕性能，采用逐级升压击穿法评定耐电晕寿命。首先测试了由杜邦公司提供的FCR薄膜的耐电晕性能，所得结果与杜邦公司提供的数据吻合得很好；对杜邦KaptonCR薄膜和几种自制薄膜进行了耐电晕测试，并将两次测试结果作了对比和分析。证明所采用的测试方法是简便可靠的，CK6、CK2和B10—2型薄膜具有接近FCR膜的耐电晕性能。

薄膜介质材料特性参数的测试技术

在分析采用接触式电极测量薄膜介质材料特性参数所存在问题的基础上，介绍了一种非接触式电极的测量原理和方法，并提出水银探针电极的测试技术。

温度及湿度对不同应力模式下低密度聚乙烯薄膜电击穿强度的影响

本文讨论温度及湿度对不同应力模式下低密度聚乙烯(LDPE)薄膜电强度的影响。发现水分子既可作受主,俘获电子,又可作增塑剂,从而给高聚物的介电击穿特性带来复杂的影响。直流预应力愈高,注入到更深陷阱中的电荷就愈多。由于深陷阱中的电荷在直到70℃的温度范围内仅部分消失,因此反场下干样品的归一化脉冲击穿场强 E_(fo)/E_(ib)的恢复特性变慢甚至消失。这些推论可由热激及载流子输运测量证实。

用液晶检测绝缘薄膜的缺陷

本文介绍一种检测绝缘薄膜缺陷的简易而有效的方法——液晶测量法,并针对交流薄膜电致发光(ACTFEL)器件中常用的几种绝缘薄膜作检测与分析。

聚丙烯薄膜浸渍性能及试验方法研究和探讨

聚丙烯薄膜的浸渍性能一直是全膜电力电容器所面临的问题,如何用有效、简单的方法准确地测试薄膜的浸渍性能,更是测试人员所关心的、本文重点探讨了聚丙烯薄膜浸渍性能的测试方法,从而对单面粗化膜,双面粗化膜光面薄膜与压花铝箔、平铝箔的五种结构的浸渍性进行研究。

AlN-Si_3N_4膜

用直流反应溅射沉积AlN－Si3N4膜。通过红外吸收光谱和X射线衍射来验证薄膜的结构。通过各种测量，给出了吸收系数、电阻率、应力、硬度和结合力。实验表明，AlN－Si3N4膜具有良好的光、电和机械特性。

热老化和紫外线老化对聚丙烯薄膜电致发光的影响

聚合物老化影响经受均匀交流电场的聚烯烃类的电致发光，本文研究了热老化和紫外线老化对电容器所用的工业聚丙烯薄膜的电致发光的影响，我们所材料的化学变化和形态改变作为老化情况来研究，发现了材料氧化和电致发光之间的相互关系，氧化降低电致发光的水平但不改变光的光谱分布，因此表明发光中心不是碳（酰）族。

局部放电对浸渍的聚丙烯薄膜的影响

研究了在球／板电极下局部放电对苄基甲苯浸渍的聚丙薄膜的影响。试验表明，甚至表观电很少的放电都会引起薄膜击穿强度大幅度下降。添加一种环氧化合物到液体介质中，即使提高表观放电电荷和放电频率，也将明显降低薄膜的降解，这可从击穿电压下降较小的特性看出。

薄膜电性能四个参数测试方法验证研究

薄膜电性能四个参数测试方法验证研究桂林电力电容器总厂李兆林笔者有幸参加了ＧＢ／Ｔ１３５４１—９２电气塑料薄膜试验方法》国家标准的验证工作现就对在元件法制定验证工作中的一些情况谈谈自己的看法和体会供同行在执行新国标时参考。（以下没有注明的膜都是ＰＰＲ膜...