制备条件对Ni(OH)_2微晶结构参数的影响

用化学共沉淀法在可控ｐＨ 值、添加剂和加氨水等条件下由ＮｉＳＯ４ 和ＮａＯＨ 反应结晶制备了氢氧化镍粉末。高性能的球形氢氧化镍颗粒系由带微孔的微晶组成的，其Ｘ 射线谱线呈各向异性宽化，其中（ ｈ０ｌ） 型谱线宽化最为严重。各向异性谱线宽化的性质与氢氧化镍中微晶结构特性有关（ 尤其是整个材料中存在着堆垛层错平面缺陷） 。通过Ｘ 射线衍射测量的微晶结构参数如微晶粒度、晶格常数ａ与ｃ 轴的大小以及（１００） 、（００１） 谱线强度等，可以用于建立其与制备工艺和电化学活性之间的关系。一般在较低的结晶度和（１００） 谱线强度下以及较大的ｃ

氢氧化镍活性、堆积密度、形貌与结构研究

由于制备条件和工艺的不同,电极材料氢氧化镍Ni(OH)_2的活性可在130～250mAh/g、堆积密度可在1.1～2.2g/cm^3之间变动,高低悬殊相差1倍.扫描电镜(SEM)下观察到的Ni(OH)_2外部形貌可分为球形、类球形和近于无定形三类.X射线衍射(XRD)研究指出高活性氢氧化镍晶体结构特征为整体有序,局部缺陷.红外光谱(IR)研究认为高活性高堆积密度Ni(OH)_2是α-Ni(OH)_2和β-Ni(OH)_2的混合物.