低压电器中电触头材料的转移

论述了电触头的材料转移现象。分析了触头工作中的非对称因素，阴极向阳极／阳极向阴极的材料转移机理。研究了触头材料转移模式及转移方向的反转原因。

银合金内氧化动力学分析

本文从银合金内氧化过程中氧－银合金扩散模型出发，导出氧化厚度（x）与氧化时间（t）呈指数关系：■；得到其两种近似表达式：（1）直线型：■；（2）抛物线型：■。计算误差（在所考虑的温度T＝973K）均＜5％。本文认为影响银合金内氧化速度的主要因素为合金原子对氧原子扩散所具有的平均能垒（E）。分析了各种银合金的能垒（E）组成，并作了相关计算（T＝973K，P＝5atm）。利用直线型公式较好地解释了AgCd和AgSn合金在相同的工艺条件下（P，T）不同的氧化速度。由此，提出了加快银合金内氧化速度的途径。

低压电器电触头材料的电弧侵蚀

本文较详细地阐述了触头材料对电弧热流输入和力效应的响应,即物理化学过程。研究了AgNi系AgW系、AgC系、AgMeO系材料在电弧作用下的侵蚀机理。最后,分析了在电弧作用下银基触头材料的侵蚀模式。

AgSnO_2触头材料在低压电力工程开关装置中的应用准则

本文详细说明了AgSnO2触头材料在各种应用条件下的特性。内容涉及在交流和直流电路中使用的、应用不同设计原则和各种尺寸的接触器以及电力继电器，借助于冶金学模型的概念，解释了触头材料与开关电弧相互作用时所表现出的开关特性的差别。从所得结果导出了AgSnO2触头材料最佳应用准则。