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CY型云母电容器tgδ隐性失效的辨析
1
作者 黄和官 《电子元件与材料》 CAS CSCD 1989年第3期53-56,共4页
元器件参数的测量不能脱离使用条件,参数值的确定也应符合等效原理,否则将会掩盖实质,误入歧途,造成损失。本文对CY型云母电容器tgδ的隐性失效进行辨析。
关键词 云母电容器 tgб 隐性失效
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干式高压高温云母纸电容器
2
作者 董鑫基 程道国 《电力电容器》 1992年第1期16-20,共5页
本文通过对云母纸性能的分析,探讨云母纸作为电容器介质的应用。特别是在干式高温高压条件中的应用。
关键词 纸介电容器 云母纸 干式 电容器
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CY_2云母电容器的质量与筛选
3
作者 程耀明 《质量与可靠性》 1992年第2期19-21,共3页
分析了CY_2云母电容器失效的原因,介绍了CY_2云母电容器的失效模式及对电容器不同缺陷的筛选方法。
关键词 电容器 失效 筛选
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CY型云母电容器高频电流电压计算
4
作者 王悦祥 《电子元件》 1992年第1期25-26,24,共3页
关键词 云母电容器 高频电流 高频电压
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国内外云母电容器发展综述 被引量:1
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作者 王悦祥 《电子元件》 1996年第1期44-46,共3页
根据近几年搜集的资料,对国内外云母电容器发展进行了综述,并结合云母电容器的特点及国情,进行了分析,提出了见解。
关键词 电容器 云母电容器 综述 电子工业
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云母电容器粉末包封工艺研究
6
作者 郭洪喜 鱼军寿 杨秀凯 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2002年第8期16-18,共3页
介绍云母电容器粉末包封的关键工艺技术,指出包封外观气孔或气泡产生的本质原因是待包封元件内部存在气体间隙。在大量实践的基础上给出解决问题的途径——采用内封工艺。该工艺对各类电子元件的外层包封实现大批量生产有极其重要的现... 介绍云母电容器粉末包封的关键工艺技术,指出包封外观气孔或气泡产生的本质原因是待包封元件内部存在气体间隙。在大量实践的基础上给出解决问题的途径——采用内封工艺。该工艺对各类电子元件的外层包封实现大批量生产有极其重要的现实意义。 展开更多
关键词 云母电容器 芯组 内封工艺 粉末包封 气体间隙
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关于云母电容器结构损耗的分析
7
作者 秦宝萍 赵黎萍 《航天工艺》 1994年第4期38-39,54,共3页
云母电容器CY-3-D-500V-3600pF-I,用于某型号"LC"振荡电路。由于电容器结构的不合理,导致电容器总的等效损耗增大,使"LC"电路出现了停振、起振时间超差等故障。通过试验分析,根据CY-3云母电容器在... 云母电容器CY-3-D-500V-3600pF-I,用于某型号"LC"振荡电路。由于电容器结构的不合理,导致电容器总的等效损耗增大,使"LC"电路出现了停振、起振时间超差等故障。通过试验分析,根据CY-3云母电容器在电路中失效的机理,提出了改进建议。 展开更多
关键词 云母电容器 停振 起振时间
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