期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
论现行IEC密封电子元器件密封性标准的合理性
被引量:
1
1
作者
黄秀铭
《环境条件与试验》
1990年第4期42-46,共5页
本文从密封性理论研究入手,论证了密封电子元件(以下简称密器)的密封性与可靠性、储存(包括在规定环境中使用)寿命(T)的关系.文章最后通过对储存环境对密封产品寿命影响的予测研究及生产实践,拟订了以Za为密封性指标的分类等级及其相应...
本文从密封性理论研究入手,论证了密封电子元件(以下简称密器)的密封性与可靠性、储存(包括在规定环境中使用)寿命(T)的关系.文章最后通过对储存环境对密封产品寿命影响的予测研究及生产实践,拟订了以Za为密封性指标的分类等级及其相应的检测指标标准.由于它的合理性、科学性,建议向IEC及MIL有关密封标准化组织推荐.
展开更多
关键词
电子元器件
IEC标准
密封
可靠性
下载PDF
职称材料
题名
论现行IEC密封电子元器件密封性标准的合理性
被引量:
1
1
作者
黄秀铭
机构
机电部第四十研究所
出处
《环境条件与试验》
1990年第4期42-46,共5页
文摘
本文从密封性理论研究入手,论证了密封电子元件(以下简称密器)的密封性与可靠性、储存(包括在规定环境中使用)寿命(T)的关系.文章最后通过对储存环境对密封产品寿命影响的予测研究及生产实践,拟订了以Za为密封性指标的分类等级及其相应的检测指标标准.由于它的合理性、科学性,建议向IEC及MIL有关密封标准化组织推荐.
关键词
电子元器件
IEC标准
密封
可靠性
分类号
TM606 [电气工程—电力系统及自动化]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
论现行IEC密封电子元器件密封性标准的合理性
黄秀铭
《环境条件与试验》
1990
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部