半电波暗室低频场均匀性研究

现行的CISPR、ANSI等标准中,只提供了30 MHz以上的半电波暗室性能评估方法。然而,随着工作在30 MHz以下的电气设备与系统逐渐增多,现有标准已无法满足需求。为了准确的评估其电磁兼容性能,需要对30 MHz以下的半电波暗室性能进行评估。场均匀性是评价半电波暗室性能的主要指标,主要以其为研究对象,对铁氧体进行了理论分析与实验;并运用数值仿真的方法分析了半电波暗室在低频时的场均匀性。研究结果表明,运用外推法拟合得到铁氧体电磁参数是可行的,可应用于低频时暗室的仿真性能评估中,促进了低频段电磁兼容相关标准的研究。同时,该研究能对低频段暗室的设计建造提供一定的指导作用。