密集阅读器环境下RFID系统识别性能研究

密集阅读器环境下的同信道干扰将显著降低阅读器识别性能,基于Nakagami-m多径信道模型和最大比合并(MRC)算法,推导了多天线分集RFID系统反向识别距离的数学期望值闭合表达式,并遵循ISO18000-6C标准的空口参数进行数值仿真,验证了推导的结论。