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美国氧化铝瓷及其金属化标准的某些要点
被引量:
2
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作者
高陇桥
《真空电子技术》
1999年第3期42-47,共6页
综述了ASTM(美国材料试验标准)和美国两个主要专业公司的Al2O3瓷及其金属化的标准现状,评价了具体条款的先进性、实用性。为我国在该领域制定新的标准提供参考。对标准中一些值得商榷的问题也提出了看法。
关键词
电子管
标准
氧化铝瓷
金属化
封接强度
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职称材料
题名
美国氧化铝瓷及其金属化标准的某些要点
被引量:
2
1
作者
高陇桥
机构
北京真空电子技术研究所
出处
《真空电子技术》
1999年第3期42-47,共6页
文摘
综述了ASTM(美国材料试验标准)和美国两个主要专业公司的Al2O3瓷及其金属化的标准现状,评价了具体条款的先进性、实用性。为我国在该领域制定新的标准提供参考。对标准中一些值得商榷的问题也提出了看法。
关键词
电子管
标准
氧化铝瓷
金属化
封接强度
Keywords
Standard, Alumina ceramics,Metallizing,Seal strength,Leak rate, Housing of vacuum interrupter
分类号
TN11-65 [电子电信—物理电子学]
TN110.42 [电子电信—物理电子学]
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1
美国氧化铝瓷及其金属化标准的某些要点
高陇桥
《真空电子技术》
1999
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