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有源矩阵液晶显示器的缺陷检测
被引量:
1
1
作者
葛长军
成建波
杨开愚
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第2期36-39,43,共5页
分析了VGA有源矩阵液晶显示器的缺陷分类、产生原因。研制出了有源矩阵液晶显示器的断路测试板、短路测试板以及全板显示测试板。
关键词
有源矩阵
液晶显示
缺陷
测试板
VGA
下载PDF
职称材料
高灵敏度分束干涉型 LCD 盒间隙厚度测量仪
2
作者
叶玉堂
刘永智
刘旭
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第4期388-392,共5页
本文报道一种高灵敏度分束干涉型LCD盒间隙厚度测量仪(以下简称测厚仪),并重点介绍其两项关键技术:干涉条纹级次的彩色识别法和光楔干涉定标法。要精确测量液晶盒间隙厚度,必须准确测定基准和测量这两组干涉条纹间的距离,因而...
本文报道一种高灵敏度分束干涉型LCD盒间隙厚度测量仪(以下简称测厚仪),并重点介绍其两项关键技术:干涉条纹级次的彩色识别法和光楔干涉定标法。要精确测量液晶盒间隙厚度,必须准确测定基准和测量这两组干涉条纹间的距离,因而必须准确识别干涉条纹的级次。强度识别法的测量精度易受随机噪声的影响。本文提出条纹级次的彩色识别法,利用这种方法,测量精度可以大幅度提高。定标是测厚仪的另一关键技术。本文提出独特的光楔干涉定标法。文中给出了光楔干涉法定标精度的理论估算。
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关键词
液晶显示
测厚仪
干涉
定标
光楔
液晶盒测厚仪
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职称材料
题名
有源矩阵液晶显示器的缺陷检测
被引量:
1
1
作者
葛长军
成建波
杨开愚
机构
电子科技大学光电子技术系
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第2期36-39,43,共5页
文摘
分析了VGA有源矩阵液晶显示器的缺陷分类、产生原因。研制出了有源矩阵液晶显示器的断路测试板、短路测试板以及全板显示测试板。
关键词
有源矩阵
液晶显示
缺陷
测试板
VGA
Keywords
Active matrix liquid crystal display Defect Tester
分类号
TN141.907 [电子电信—物理电子学]
TN873.93 [电子电信—信息与通信工程]
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职称材料
题名
高灵敏度分束干涉型 LCD 盒间隙厚度测量仪
2
作者
叶玉堂
刘永智
刘旭
机构
电子科技大学光电子技术系
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第4期388-392,共5页
文摘
本文报道一种高灵敏度分束干涉型LCD盒间隙厚度测量仪(以下简称测厚仪),并重点介绍其两项关键技术:干涉条纹级次的彩色识别法和光楔干涉定标法。要精确测量液晶盒间隙厚度,必须准确测定基准和测量这两组干涉条纹间的距离,因而必须准确识别干涉条纹的级次。强度识别法的测量精度易受随机噪声的影响。本文提出条纹级次的彩色识别法,利用这种方法,测量精度可以大幅度提高。定标是测厚仪的另一关键技术。本文提出独特的光楔干涉定标法。文中给出了光楔干涉法定标精度的理论估算。
关键词
液晶显示
测厚仪
干涉
定标
光楔
液晶盒测厚仪
Keywords
LCD,Cell gap meter,Interference.
分类号
TN141.907 [电子电信—物理电子学]
TH821.1 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
有源矩阵液晶显示器的缺陷检测
葛长军
成建波
杨开愚
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999
1
下载PDF
职称材料
2
高灵敏度分束干涉型 LCD 盒间隙厚度测量仪
叶玉堂
刘永智
刘旭
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997
0
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职称材料
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