CdTe薄膜的红外光学特性研究

用干涉法研究了热蒸发（ＰＶＤ）方法制备的ＣｄＴｅ薄膜材料的红外光学特性．通过对不同基板温度和不同薄膜厚度ＣｄＴｅ薄膜样品的研究，确定了在薄膜沉积过程中基板温度和膜厚对ＣｄＴｅ薄膜红外光学特性的影响．发现ＣｄＴｅ薄膜具有一定的非均匀性，其折射率随着薄膜厚度的增加而减小．在１２０～２００℃范围内，基板温度对ＣｄＴｅ薄膜红外光学特性的影响不大．

化学气相沉积法制备ZnS块材料的相结构

用化学气相沉积法制备了红外晶体ＺｎＳ块材料；分别用ＸＲＤ和ＴＥＭ分析了所沉积ＺｎＳ的相结构，并用ＩＲ测试了其红外透过率。结果表明：在沉积温度为５５０～７００℃，Ｈ２Ｓ／Ｚｎ摩尔流量比为０．５～２０的条件下所沉积ＺｎＳ的相结构主要为闪锌矿结构；随着沉积温度的升高和Ｈ２Ｓ／Ｚｎ摩尔流量比的增大，ＺｎＳ中有纤锌矿结构出现且其含量增多，导致了ＺｎＳ红外透过率的降低。

Hg_(1-x)Cd_xTe的远红外透射光谱与晶格振动

采用傅里叶变换红外光谱仪，在４．２～３００Ｋ、２０～３５０ｃｍ－１范围测量了Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ的远红外透射光谱，研究了剩余射线吸收带两侧样品的吸收行为．除了单声子及双声子模外。

分子束外延Hg_(0.68)Cd_(0.32)Te薄膜光致发光和喇曼散射的研究

对利用ＭＢＥ技术生长的Ｈｇ０．６８Ｃｄ０．３２Ｔｅ薄膜进行了光致发光和喇曼光谱的研究．拟合薄膜光致发光谱得到的禁带宽度，与用红外透射谱得到的薄膜带宽相近；其半峰宽仅为５ｍｅＶ；带尾能量小于１．３ｍｅＶ，显示了较高的薄膜质量．喇曼光谱测试表明，在１１９ｃｍ－１和１３８ｃｍ－１处有较强的喇曼散射峰，其中１１９ｃｍ－１峰为类ＨｇＴｅ的ＴＯ模，１３８ｃｍ－１为类ＨｇＴｅ的ＬＯ模；在９３ｃｍ－１处也可以观察到一个较弱的喇曼散射峰．

红外探测器材料简述

红外探测器材料是红外成像探测器技术的基础，红外成像探测器技术的发展从根本上依赖红外探测器材料的发展。本文依据红外探测器工作温度，将目前主要的红外探测器材料划分为制冷型红外探测器材料和非制冷型红外探测器材料两种大类，围绕材料特点、制备技术等展开简单讨论，并在此基础上，对红外探测器技术及材料的发展趋势进行了初步分析。

a-C∶H/KCl复合膜晶化凝聚模型及凝聚物标度不变性的计算机模拟研究

基于红外分析结果,本文提出一个 a-C:H/KCl 复合膜 a-C:H 层非平衡晶化凝聚的模型,并做了计算机模拟研究。模拟图形为具有良好的标度不变性的链环状分形,其分数维值为1. 81±0. 03。模拟结果表明,当图形密度变化时,所得分雏值不变,但标度区的范围随密度增大而变宽。

Hg_(1-x)Cd_xTe的拉曼光谱

我们发现Hg1 -xCdxTe的拉曼散射峰随着温度的变化会发生频移 ,它的二级散射峰来自LO1 +LO1 ,LO1 +LO2 ,LO2 +LO2 ,并且它们的强度对晶体的完整性较敏感。同时也发现Hg1 -xCdxTe中的Te的沉淀相和Te的氧化物相的拉曼散射峰。

昆明物理研究所2007年研究生招生简章

昆明物理研究所是国内最早从事红外科学与技术研究的高新技术研究所之一，隶属于中国兵器工业集团公司。始建于1958年，座落在四季如春的昆明市区。我所围绕红外热成像技术的发展，研究开发与生产领域包括红外探测器材料、红外探测器、杜瓦瓶、微型制冷、红外光学材料及镀膜、电子信号处理、光机扫描、红外望远镜、热成像系统以及相应的红外测试技术。