单模光纤模场直径标准测量装置的研究

本文讨论一种用于单模光纤模场测量的连续变孔径方法。该方法利用一个圆形光阑沿光纤轴线方向进行远场扫描,测量不同孔径角下的光功率分布,从而得出Petermann-Ⅱ定义的模场直径。与传统的变孔径测量技术相比,该方法具有测量孔径角范围宽、取样点多以及取样角度可以控制等优点,因此提高了测量精确度和拓宽了适用范围。对不同的光纤样品在1.3μm和1.55μm波长下所作的实验表明,测量不确定度小于3%。

质子轰击GaP电光采样测量

在ｎ－ＧａＰ衬底上制作共面波导（ＣＰＷ），用质子轰击的方法减小共面波导的漏电损失，用倍频扫描移相电光采样技术测量了１～５ＧＨｚ微波信号．质子轰击后ＧａＰＣＰＷ的电阻增大了４个量级，在２．３０ＧＨｚ微波信号时，质子轰击ＧａＰＣＰＷ电光采样测量获得了１０ｍＶ／Ｈｚ的电压灵敏度．

光纤检测中数据处理方法研究

随着光纤的应用日趋广泛 ,在一些领域 (例如军事 )对光纤的质量提出了更高的要求。光纤生产过程中产生的微小气泡等缺陷 ,因影响光纤的强度和光纤中信号的传输质量而使精密系统受到影响 ,有时这种影响甚至是致命的。因此寻求一种有效的、非接触的、在线的和快速的光纤微小缺陷检测方法非常重要。光电混合联合变换相关器是方法之一。该方法的关键是如何提高系统的识别能力。文中通过对用该方法得到的数字化功率谱特性的研究 ,提出用减小功率谱直流项和二值化两种方法进行数字化处理。实验结果表明 ,两种方法都能提高系统相关输出的信噪比 ,减小中间峰的强度 ,从而使系统的识别能力得到很大程度的提高。

吸收性薄膜波导的参数测量

介绍了一种用棱镜耦合法测量吸收性薄膜波导参数的一种方法，它是由测得棱镜底部反射光斑中模的吸收线位置来确定薄膜的折射率和厚度。结果表明，此方法无需进行大量的计算就能同时精确地测量薄膜的折射率和厚度。给了两种吸收性不同的薄膜波导参数测量结果。

α轴向Nd：MgO：LiNbO_3单晶光纤的镁离子内扩散显微特性研究

α轴向Ｎｄ：ＭｇＯ：ＬｉＮｂＯ_３单晶光纤的镁离子内扩散显微特性研究阙文修，姚熹（西安交通大学电子材料研究室，西安７１００４９）霍玉晶（清华大学电子工程系，北京１０００８４）提要：α轴向生长的Ｎｄ：ＭｇＯ：ＬｉＮｂＯ_３单晶光纤经镁离子内扩散以改变其表...

硅基波导、光探测器和CMOS电路的集成

对于集成光学器件和微电子电路制作，应用了驻波监控指示技术（ＳＷＡＭＩ）、局部氧化技术（ＬＯＣＯＳ）、光波导和探测器的平接、漏波，以及镜耦合技术。文章介绍了硅基光波导、光探测器和ＣＭＯＳ电路的单片集成技术。

逆散射方法测量光纤折射率分布

光纤的色散特性和散射损耗都取决于光纤内部的折射率分布。本文描述了利用散射谱测量光纤折射率分布的方法,利用微扰法解波动方程,并通过散射谱的位相恢复技术,此法能够以任意理论精度逼近光纤的折射率分布,并能对原理误差给出定量结果。

光纤传象束极限分辨率的测试

本文根据光纤传象束极限分辨率的理论设计了一套测试装置，并介绍其测试装置和方法，文章给出部分实测结果，其结果与理论值较接近。

利用棱镜耦合器测量光波导衬底的折射率

本文提出了测量LiNbO_3衬底折射率的新方法,用棱镜耦合方法并测量光的强度在棱镜底面处全内反射恰遭到破坏的角度计算折射率。该方法可以用于分析待测铌酸锂基片是否可以用作衬底。