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金刚石薄膜的红外增透性 被引量:2
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作者 杨国伟 毛友德 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1992年第2期148-150,182,共4页
以 CH_3COCH_3/H_2为工作气体,用 HFCVD 方法,制备出适用于红外光学的金刚石薄膜。用 SEM 观察到了所制备膜的表面晶形。讨论了金刚石薄膜的红外增透性。
关键词 金刚石薄膜 表面晶形 红外增透性
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Si衬底上外延3C-SiC薄层结构及光学常数分析
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作者 雷天民 陈治明 +3 位作者 马剑平 余明斌 胡宝宏 王建农 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第4期480-482,492,共4页
采用热丝化学气相淀积生长法,在Si衬底上外延生长3C-SiC薄层获得成功.生成源为CH4+SiH4+H2混合气体,热丝温度约为1800~2000℃,碳化和生长时衬底温度低于1000℃.用X射线衍射,变角椭偏法等分析手... 采用热丝化学气相淀积生长法,在Si衬底上外延生长3C-SiC薄层获得成功.生成源为CH4+SiH4+H2混合气体,热丝温度约为1800~2000℃,碳化和生长时衬底温度低于1000℃.用X射线衍射,变角椭偏法等分析手段研究了外延层的晶体结构和光学常数.X射线衍射结果显示出3C-SiC薄层的外延生长特征,变角椭偏法测量出外延层的折射率为2.686。 展开更多
关键词 碳化硅 外延 薄层 结构 光学常数
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