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金刚石薄膜的红外增透性
被引量:
2
1
作者
杨国伟
毛友德
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第2期148-150,182,共4页
以 CH_3COCH_3/H_2为工作气体,用 HFCVD 方法,制备出适用于红外光学的金刚石薄膜。用 SEM 观察到了所制备膜的表面晶形。讨论了金刚石薄膜的红外增透性。
关键词
金刚石薄膜
表面晶形
红外增透性
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职称材料
Si衬底上外延3C-SiC薄层结构及光学常数分析
2
作者
雷天民
陈治明
+3 位作者
马剑平
余明斌
胡宝宏
王建农
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第4期480-482,492,共4页
采用热丝化学气相淀积生长法,在Si衬底上外延生长3C-SiC薄层获得成功.生成源为CH4+SiH4+H2混合气体,热丝温度约为1800~2000℃,碳化和生长时衬底温度低于1000℃.用X射线衍射,变角椭偏法等分析手...
采用热丝化学气相淀积生长法,在Si衬底上外延生长3C-SiC薄层获得成功.生成源为CH4+SiH4+H2混合气体,热丝温度约为1800~2000℃,碳化和生长时衬底温度低于1000℃.用X射线衍射,变角椭偏法等分析手段研究了外延层的晶体结构和光学常数.X射线衍射结果显示出3C-SiC薄层的外延生长特征,变角椭偏法测量出外延层的折射率为2.686。
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关键词
碳化硅
外延
薄层
结构
光学常数
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职称材料
题名
金刚石薄膜的红外增透性
被引量:
2
1
作者
杨国伟
毛友德
机构
合肥工业大学应用物理系
出处
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第2期148-150,182,共4页
文摘
以 CH_3COCH_3/H_2为工作气体,用 HFCVD 方法,制备出适用于红外光学的金刚石薄膜。用 SEM 观察到了所制备膜的表面晶形。讨论了金刚石薄膜的红外增透性。
关键词
金刚石薄膜
表面晶形
红外增透性
Keywords
Thin Diamond Film
Surface Crystal Formation
Infrarcd Transmissivity
分类号
TN304.024 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
Si衬底上外延3C-SiC薄层结构及光学常数分析
2
作者
雷天民
陈治明
马剑平
余明斌
胡宝宏
王建农
机构
西安理工大学电子工程系
香港科技大学
出处
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第4期480-482,492,共4页
基金
国家自然科学基金
文摘
采用热丝化学气相淀积生长法,在Si衬底上外延生长3C-SiC薄层获得成功.生成源为CH4+SiH4+H2混合气体,热丝温度约为1800~2000℃,碳化和生长时衬底温度低于1000℃.用X射线衍射,变角椭偏法等分析手段研究了外延层的晶体结构和光学常数.X射线衍射结果显示出3C-SiC薄层的外延生长特征,变角椭偏法测量出外延层的折射率为2.686。
关键词
碳化硅
外延
薄层
结构
光学常数
Keywords
SiC
epitaxy
film
structure
optical constant
分类号
TN304.05 [电子电信—物理电子学]
TN304.024 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
金刚石薄膜的红外增透性
杨国伟
毛友德
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
1992
2
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职称材料
2
Si衬底上外延3C-SiC薄层结构及光学常数分析
雷天民
陈治明
马剑平
余明斌
胡宝宏
王建农
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999
0
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职称材料
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