非晶态Se薄膜晶化过程中微裂纹产生的研究

薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Ｓｅ薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究；利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的ＳｉＯ／Ｓｅ／ＳｉＯ的晶化做了进一步研究。结果表明微裂纹的产生与晶化过程中原子重新排序、原子迁移导致晶界的产生和体积收缩产生的应力有关，裂纹的产生还同薄膜与衬底间的热失配有关。

可溶阳极电解法分离粗碲中的硒

本文论述了可溶阳极电解法处理分离的原理,介绍了在氢氧化钠、盐酸及硫酸加介质中电解的小试验情况,化钠介质行在电密度40—45Am^2、温度25—30℃含0.048%、99％的—电解,析出的0.001%,的纯度提高到99.993%,国家标准一级的要求,由此得出结论:电解法处理粗是分中少有效方法,对生产一级有实际应用价值。