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DIAMOND FILMS DEPOSITED AT LOW TEMPERATURES MICROWAVE PLASMA-ASSISTED CVD METHOD
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作者 王建军 吕反修 杨保雄 《International Journal of Minerals,Metallurgy and Materials》 SCIE EI CAS CSCD 1995年第2期83+79-83,共6页
Low-temperature deposition of diamond thin films in the range of 280 ̄445℃ has been successfully carried out by microwave plasma-assisted CVD method.At lower deposition temperatures (280 ̄445℃),the large increase in... Low-temperature deposition of diamond thin films in the range of 280 ̄445℃ has been successfully carried out by microwave plasma-assisted CVD method.At lower deposition temperatures (280 ̄445℃),the large increase in the nucleation density and great improvement in the average surfae roughness of the diamond were observed. Results of low temperature deposition and characterization of diamond thin films obtained are presented. 展开更多
关键词 diamond films low-temperature deposition microwave plasma
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过滤式阴极电弧沉积类金刚石薄膜工艺研究
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作者 朱纪军 左敦稳 《航空精密制造技术》 1998年第6期24-27,共4页
研究了过滤式阴极电弧沉积系统的稳弧工艺参数,通过正交试验获得最佳稳弧参数。并且研究了弯管内置挡板对宏观粒子过滤效果的影响。采用喇曼光谱研究了偏压对生成的类金刚石薄膜性能的影响,证明-100V偏压下获得的类金刚石薄膜有... 研究了过滤式阴极电弧沉积系统的稳弧工艺参数,通过正交试验获得最佳稳弧参数。并且研究了弯管内置挡板对宏观粒子过滤效果的影响。采用喇曼光谱研究了偏压对生成的类金刚石薄膜性能的影响,证明-100V偏压下获得的类金刚石薄膜有最佳的SP3含量。扫描电镜测试表明,在(111)硅基片上获得致密的膜,但在高速钢基体上沉膜堆积现象比较严重,不易获得优质类金刚石膜。同时也给出了类金刚石的原子力显微照片(AFM),表明稳弧参数对类金刚石薄膜表面形貌有较大的影响。 展开更多
关键词 阴极电弧 类金刚石薄膜 稳弧参数 挡板 偏压
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