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聚乙炔/SnO_2异质结的光电流密度 被引量:1
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作者 刘彭义 陈兴无 《暨南大学学报(自然科学与医学版)》 CAS CSCD 1997年第1期49-52,共4页
用改进的Naarmann法在n型SnO2基片上直接聚合成聚乙炔膜,制成p-(CH)x/n-SnO2异质结,用氩离子激光器作光源,测量了光电流密度与入射光强度的关系曲线.在仅考虑聚乙炔吸收光的情况下,从理论上导出聚乙炔... 用改进的Naarmann法在n型SnO2基片上直接聚合成聚乙炔膜,制成p-(CH)x/n-SnO2异质结,用氩离子激光器作光源,测量了光电流密度与入射光强度的关系曲线.在仅考虑聚乙炔吸收光的情况下,从理论上导出聚乙炔基异质结的光电流密度公式。 展开更多
关键词 聚乙炔聚 异质结 光电流密度 有机半导体 氧化锡
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