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题名烧结条件对晶体管电热参数的控制作用
被引量:1
- 1
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作者
王华
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机构
八七七厂
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1993年第2期39-41,共3页
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文摘
本文通过对烧结过程的分析,着重论述了烧结条件对晶体管热阻的控制作用,并由实验得到了使大功率晶体管DU33热阻最小的最佳烧结条件;同时也简要论述了烧结条件对晶体管抗热疲劳性能及饱和压降的控制作用.
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关键词
晶体管
焊接
烧结
电热参数
控制
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分类号
TN320.593
[电子电信—物理电子学]
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题名晶体三极管外引线断裂原因分析
被引量:1
- 2
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作者
周振凯
赵兰君
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机构
湘潭半导体厂
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第3期38-41,共4页
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文摘
晶体管外引线材料一般是4J29,即Ni29、Co18可伐合金。管座可伐丝规格为φ0.45mm或φ0.5mm,通常管座先镀一层镍再镀一层金作为保护层。即使如此,三极管外引线还经常出现锈蚀、裂纹、甚至断裂。近年来,我厂镀金三极管外引线出现这种情况有所增加,为了探讨三极管外引线断裂原因,以便采取措施,减少和杜绝这种现象,我们曾进行了系统地分析研究,从宏观到微观、从表面到内部,对锈蚀、裂纹部位进行了比较仔细地分析检验。综合分析认为外引线断裂主要来自材质以及电镀不良所致。
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关键词
晶体管
引线
断裂
分析
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分类号
TN320.593
[电子电信—物理电子学]
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