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硅低温双极晶体管的优化设计与制备─—I.优化设计理论
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作者 郑茳 肖志雄 +1 位作者 吴金 魏同立 《微电子学》 CAS CSCD 1995年第1期21-28,共8页
本文研究了硅双极晶体管电流增益和截止频率的低温物理特性,提出了电流增益在低温下将随发射区杂质浓度的下降和基区杂质浓度的上升而上升的新理论,得出了低温下硅中浅能级杂质将起有效陷阱作用的新结论。在上述基础上,本文对发射区... 本文研究了硅双极晶体管电流增益和截止频率的低温物理特性,提出了电流增益在低温下将随发射区杂质浓度的下降和基区杂质浓度的上升而上升的新理论,得出了低温下硅中浅能级杂质将起有效陷阱作用的新结论。在上述基础上,本文对发射区、基区和收集区的掺杂分布进行了优化设计,这将成为获得高性能硅低温双极晶体管的重要设计依据和理论基础。 展开更多
关键词 低温器件 双极晶体管 硅器件 优化设计
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硅低温双极晶体管的优化设计与制备──Ⅱ结构与电特性分析
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作者 郑茳 肖志雄 +1 位作者 吴金 魏同立 《微电子学》 CAS CSCD 1995年第2期30-35,44,共7页
本文在前文器件掺杂分布优化设计的基础上,实现了结构设计和工艺选择,采用多晶硅发射极技术,研制成功了77K下高增益(H_(FE)可达250)硅双极晶体管;采用多晶硅发射区和基区重掺杂技术,获得了可与CMOS结构兼容,基... 本文在前文器件掺杂分布优化设计的基础上,实现了结构设计和工艺选择,采用多晶硅发射极技术,研制成功了77K下高增益(H_(FE)可达250)硅双极晶体管;采用多晶硅发射区和基区重掺杂技术,获得了可与CMOS结构兼容,基区电阻较小的硅低温双极晶体管。 展开更多
关键词 低温器件 双极晶体管 多晶硅发射极 硅器件
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IGBT驱动集成电路的保护特性研究
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作者 刘云峰 陈国平 《电气自动化》 北大核心 1999年第2期29-31,35,共4页
本文阐述了IGBT驱动集成电路的过流保护原理,着重讨论了IGBT保护电路的设计思路。
关键词 IGBT 驱动集成电路 过流保护 双极性晶体管 设计
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宽温高频高反压沟道基区晶体管研制 被引量:1
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作者 丛众 吴春瑜 +5 位作者 王荣 石广元 闫东梅 张雯 朱肖林 汪永生 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第5期53-55,共3页
耗尽基区双极晶体管也称为双极静电感应晶体管(BSIT),其电流放大系数(hFE)具有负的温度系数.双极结型晶体管(BJT)的hFE具有正的温度系数.将BSIT与BJT并联,采用BJT常规平面工艺制造了宽温高频高反压沟... 耗尽基区双极晶体管也称为双极静电感应晶体管(BSIT),其电流放大系数(hFE)具有负的温度系数.双极结型晶体管(BJT)的hFE具有正的温度系数.将BSIT与BJT并联,采用BJT常规平面工艺制造了宽温高频高反压沟道基区双极PNP晶体管.本文描述了这种新器件结构、工作原理、设计与制造.新器件突出特点是:当温度变化较大时,hFE漂移较小.测试结果表明:环境温度从25℃升到180℃时,器件的hFE随温度T的变化率小于35%.优于同类型的常规双极结型晶体管,平均改善20%.当温度从25℃降到-55℃,器件的hFE变化率小于或等于30%. 展开更多
关键词 耗尽基区 静电感应 本征栅 双极晶体管 BSIT
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基于 IGBT 的 1MVAR 无功发生器的设计与实验 被引量:1
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作者 蓝元良 李文磊 +2 位作者 骆济寿 解中秀 牛斗 《电工电能新技术》 CSCD 1997年第3期35-38,共4页
本文描述了基于IGBT的1MVARASVG装置的主电路结构、工作原理、控制系统及驱动和检测电路的设计,并就其对电力系统造成的谐波影响进行分析。
关键词 双极性晶体管 无功发生器 设计 控制系统
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用瞬态激励分析法模拟半导体器件的交流特性
6
作者 郭宝增 《半导体情报》 1998年第3期39-42,共4页
基于傅里叶变换的瞬态激励法是一种模拟半导体器件交流特性的计算技术。本文详细介绍了这种方法的原理和具体使用方法,并且给出了用这种方法模拟Si-SiGe-Si异质结双极晶体管的结果。
关键词 模拟 异质结 双极晶体管 计算机辅助设计
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双极型晶体管直流模型参数提取的局部优化方法 被引量:2
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作者 李丹丹 郑增钰 《微电子学》 CAS CSCD 1995年第2期49-54,共6页
采用SPICE进行电路模拟时,获取适用的晶体管模型参数是非常重要的,它将直接影响电路模拟的精度。提取模型参数的方法有分段直接提取法、整体优化法以及局部优化法。前两种方法有其各自的缺点,局部优化法针对使用它们可能遇到的... 采用SPICE进行电路模拟时,获取适用的晶体管模型参数是非常重要的,它将直接影响电路模拟的精度。提取模型参数的方法有分段直接提取法、整体优化法以及局部优化法。前两种方法有其各自的缺点,局部优化法针对使用它们可能遇到的问题做了改进。本文针对双极型晶体管直流模型参数的提取,详细介绍了一种局部优化方法,经过使用,能够达到满意的精度。 展开更多
关键词 双极晶体管 参数提取 优化设计 CAD 集成电路
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SiGe/Si异质结双极晶体管 被引量:3
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作者 杨亚光 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第4期10-16,共7页
介绍了SiGe/Si异质结双极晶体管(HBT)的特点、自对准HBT、非自对准HBT的结构以及通过低温热循环、SPOTEL、重硼掺杂等工艺使fT从20GHz增至110GHz的方法。
关键词 HBT 设计 异质结 双极晶体管
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硅低温双极晶体管的数值模拟
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作者 张住兵 吴金 魏同立 《电子科学学刊》 CSCD 1998年第4期546-553,共8页
本文讨论了有关低温双极器件模拟物理参数的低温模型和各种低温物理效应,确立了适用于低温双极器件模拟的数值分析方法,建立了适用于77-300K温度范围内硅双极器件模拟程序,最后模拟分析了一典型结构品体管的常温和低温时的工作特性。
关键词 双极晶体管 器件模拟 优化设计
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工作在液氮温度下的低频低噪声双极晶体管的研究 被引量:2
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作者 杨拥军 王长河 白淑华 《半导体情报》 1995年第3期8-15,共8页
对双极晶体管的低温物理模型和低频噪声模型进行了研究,认为低温下硅双极晶体管电流增益下降的主要原因是低温下非理想基极电流的增加。同时指出,低温下硅双极晶体管1/f噪声的增大,是由于低温下电流增益的减小和载流子在体内和表... 对双极晶体管的低温物理模型和低频噪声模型进行了研究,认为低温下硅双极晶体管电流增益下降的主要原因是低温下非理想基极电流的增加。同时指出,低温下硅双极晶体管1/f噪声的增大,是由于低温下电流增益的减小和载流子在体内和表面的复合增加。通过优化设计,做出了一种低温、低频、低噪声硅双极晶体管。测试表明,在室温(300K)下,电流增益、低频转折频率、1kHz点的噪声电压分别为β≥800,f_L≤30Hz,En(1kHz)≤1.5nV/  ;低温(77K)下,电流增益、低频转折频率、1kHz点的噪声电压分别为β≥30,f_L≤300Hz,En(1kHz)≤1.2nV/。 展开更多
关键词 低频 低噪声 1/f噪声 双极晶体管
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f_(max)─载流子迁移率关系在高频HBT设计中的意义
11
作者 陈福荫 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1994年第2期121-126,共6页
在导出HBT的最高振荡频率与载流子迁移率关系的基础上[1],指出了多子在影响频率性能方面与少子同样重要,呈现的几何平均关系清楚地揭示出晶体管的“双极”工作原理。在比较Npn和PnpHBT的频率性能中给出了目前少子迁移... 在导出HBT的最高振荡频率与载流子迁移率关系的基础上[1],指出了多子在影响频率性能方面与少子同样重要,呈现的几何平均关系清楚地揭示出晶体管的“双极”工作原理。在比较Npn和PnpHBT的频率性能中给出了目前少子迁移率的选择方法。为了提高计算的正确性,提出应进行深入的少子迁移率测量研究,以能为计算提供系统的、可靠的实验数据。初步估算得出PupHBT的f(max)稍高于或等于Npn的f(max),最后,根据最高振荡频率与载流子迁移率的关系,对高频HBT的最佳设计进行了比较系统的分析。 展开更多
关键词 异质结 双极晶体管 载流迁移率
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异质结双极晶体管的计算机模拟分析和优化设计
12
作者 杜宏霞 李克诚 黄以明 《半导体情报》 1989年第2期27-41,共15页
本文以Anderson模型为基础,采用肖克莱漂移-扩散模型对HBT进行分析,将异质结中存在的热电子效应,采用扩散系数等效法引入器件的分析模型中,并在此基础上建立了一套对HBT性能参数、基本特性的分析程序和性能参数的优化程序,得到了与器件... 本文以Anderson模型为基础,采用肖克莱漂移-扩散模型对HBT进行分析,将异质结中存在的热电子效应,采用扩散系数等效法引入器件的分析模型中,并在此基础上建立了一套对HBT性能参数、基本特性的分析程序和性能参数的优化程序,得到了与器件结果相吻合的结果。 展开更多
关键词 双极晶体管 CAD 模拟分析 异质结
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交流传动用单片功率达林顿晶体管的计算机辅助设计和瞬态分析
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作者 Jasu.,KL 王黛琳 《国外电力电子技术》 1989年第3期27-34,共8页
关键词 双极晶体管 CAD 瞬态分析
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