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AlGaInP/GaAs HBT发射结空间电荷区复合电流的研究
被引量:
5
1
作者
顾伟东
夏冠群
+2 位作者
冯先根
吴强
P.A.HoustonA
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第10期748-754,共7页
本文采用深能级瞬态谱(DLTS)方法直接对Al0.3Ga0.22In0.48P/GaAs异质结双极型晶体管(HBT)的发射结(N-P+结)进行了测试,得到了N型AlGaInP发射区中的深能级的位置、俘获截面以及缺陷浓度.利用这些数据通过单一能级复合的Shockle...
本文采用深能级瞬态谱(DLTS)方法直接对Al0.3Ga0.22In0.48P/GaAs异质结双极型晶体管(HBT)的发射结(N-P+结)进行了测试,得到了N型AlGaInP发射区中的深能级的位置、俘获截面以及缺陷浓度.利用这些数据通过单一能级复合的Shockley-Read-Hall公式,计算了发射结空间电荷区(SCR)中的复合电流,探讨了深能级中心对HBT器件特性的影响.本文的理论分析方法可为研制高性能HBT器件所需的材料质量提高提供参考依据.
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关键词
HBT
异质结
测试
发射结
双极型晶体管
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职称材料
IGBT特性的测量方法
被引量:
5
2
作者
张秀澹
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
1995年第1期68-70,共3页
IGBT特性的测量方法张秀澹TheTestMethodsofIGBT¥//本文根据国际电工委员会(IEC)的最新标准资料,扼要介绍了IGBT①栅极一发射极门槛电压;②栅极一发射极漏电流;③关断耗因功率、关断耗散能量②...
IGBT特性的测量方法张秀澹TheTestMethodsofIGBT¥//本文根据国际电工委员会(IEC)的最新标准资料,扼要介绍了IGBT①栅极一发射极门槛电压;②栅极一发射极漏电流;③关断耗因功率、关断耗散能量②开通时间、开通延迟时间、上升时间,...
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关键词
IGBT
测量
测量电路
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职称材料
双极晶体管中子辐照测量分析
3
作者
李继国
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
1989年第12期41-48,共8页
本文讨论了双极晶体管在瞬时中子辐照时测试条件变化对测试电流增益h_(FE)的影响,并利用稳态中子源上的测试结果对其进行评估。
关键词
双极晶体管
中子辐照
测量
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职称材料
1800V/300A非破坏性双极型电力晶体管测试仪
4
作者
Carpe.,G
罗兴宪
《国外电力电子技术》
1991年第2期15-20,共6页
关键词
电力晶体管
晶体管
测试仪
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职称材料
用双电流法测量双极晶体管的结温
被引量:
1
5
作者
杨志伟
杜文华
+3 位作者
苗庆海
张德骏
张兴华
杨列勇
《山东大学学报(自然科学版)》
CSCD
1999年第4期417-420,共4页
基于Shockley 方程提出用双电流法测量半导体器件的结温,并与传统的线性近似法进行对比,消除了由于不同器件热电性能的差异引入的误差。
关键词
双电流法
双极晶体管
△VBE法
结温测量
Shockley方程
热电性能
测量方法
原文传递
题名
AlGaInP/GaAs HBT发射结空间电荷区复合电流的研究
被引量:
5
1
作者
顾伟东
夏冠群
冯先根
吴强
P.A.HoustonA
机构
中国科学院上海冶金研究所
UniversityofSheffield
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第10期748-754,共7页
基金
国家自然科学基金
文摘
本文采用深能级瞬态谱(DLTS)方法直接对Al0.3Ga0.22In0.48P/GaAs异质结双极型晶体管(HBT)的发射结(N-P+结)进行了测试,得到了N型AlGaInP发射区中的深能级的位置、俘获截面以及缺陷浓度.利用这些数据通过单一能级复合的Shockley-Read-Hall公式,计算了发射结空间电荷区(SCR)中的复合电流,探讨了深能级中心对HBT器件特性的影响.本文的理论分析方法可为研制高性能HBT器件所需的材料质量提高提供参考依据.
关键词
HBT
异质结
测试
发射结
双极型晶体管
Keywords
Bipolar transistors
Electron emission
Heterojunctions
Semiconducting gallium arsenide
分类号
TN322.807 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
IGBT特性的测量方法
被引量:
5
2
作者
张秀澹
出处
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
1995年第1期68-70,共3页
文摘
IGBT特性的测量方法张秀澹TheTestMethodsofIGBT¥//本文根据国际电工委员会(IEC)的最新标准资料,扼要介绍了IGBT①栅极一发射极门槛电压;②栅极一发射极漏电流;③关断耗因功率、关断耗散能量②开通时间、开通延迟时间、上升时间,...
关键词
IGBT
测量
测量电路
分类号
TN322.807 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
双极晶体管中子辐照测量分析
3
作者
李继国
机构
河北半导体研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
1989年第12期41-48,共8页
文摘
本文讨论了双极晶体管在瞬时中子辐照时测试条件变化对测试电流增益h_(FE)的影响,并利用稳态中子源上的测试结果对其进行评估。
关键词
双极晶体管
中子辐照
测量
分类号
TN322.807 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
1800V/300A非破坏性双极型电力晶体管测试仪
4
作者
Carpe.,G
罗兴宪
出处
《国外电力电子技术》
1991年第2期15-20,共6页
关键词
电力晶体管
晶体管
测试仪
分类号
TN322.807 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
用双电流法测量双极晶体管的结温
被引量:
1
5
作者
杨志伟
杜文华
苗庆海
张德骏
张兴华
杨列勇
机构
山东大学物理系
出处
《山东大学学报(自然科学版)》
CSCD
1999年第4期417-420,共4页
基金
国家自然科学基金!( 项目编号:69576016)
文摘
基于Shockley 方程提出用双电流法测量半导体器件的结温,并与传统的线性近似法进行对比,消除了由于不同器件热电性能的差异引入的误差。
关键词
双电流法
双极晶体管
△VBE法
结温测量
Shockley方程
热电性能
测量方法
Keywords
double current method
ΔV BE method
junction temperature
分类号
TN322.807 [电子电信—物理电子学]
TH811 [机械工程—精密仪器及机械]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
AlGaInP/GaAs HBT发射结空间电荷区复合电流的研究
顾伟东
夏冠群
冯先根
吴强
P.A.HoustonA
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997
5
下载PDF
职称材料
2
IGBT特性的测量方法
张秀澹
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
1995
5
下载PDF
职称材料
3
双极晶体管中子辐照测量分析
李继国
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
1989
0
下载PDF
职称材料
4
1800V/300A非破坏性双极型电力晶体管测试仪
Carpe.,G
罗兴宪
《国外电力电子技术》
1991
0
下载PDF
职称材料
5
用双电流法测量双极晶体管的结温
杨志伟
杜文华
苗庆海
张德骏
张兴华
杨列勇
《山东大学学报(自然科学版)》
CSCD
1999
1
原文传递
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