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Si_(1-x)Ge_x材料和双极型器件的进展 被引量:6
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作者 贾宏勇 孙自敏 陈培毅 《半导体情报》 1999年第3期18-24,共7页
Si1-xGex材料具有许多优良的性质,高质量的应变外延层可以把能带工程的概念引入到Ⅳ族器件之中。外延Si1-xGex基区的异质结双极型晶体管(HBT)获得了优良的性能,并且,其具有可以同硅工艺兼容的优点,把Si1-... Si1-xGex材料具有许多优良的性质,高质量的应变外延层可以把能带工程的概念引入到Ⅳ族器件之中。外延Si1-xGex基区的异质结双极型晶体管(HBT)获得了优良的性能,并且,其具有可以同硅工艺兼容的优点,把Si1-xGex同Si集成的BiCMOS工艺取得了很大的发展,已经达到了工业应用的水平。Si1-xGex工艺的发展,电路速度的提高,也促进了微波集成电路的进步,提高了SiMMIC的应用频段。从目前的发展现状来看,已经达到了在射频(RF)通信中广泛应用的阶段。 展开更多
关键词 SI1-XGEX HBT 微波器件 异质结 双极晶体管
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微波晶体管的自动测试
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作者 杨潞 《火控雷达技术》 1989年第2期9-13,共5页
本文在 HP8409微波网络分析仪上完成了微波晶体管的自动测试。针对缺少微带标准件的情况,研究分析空气微带延时线,从理论上证明了用空气微带线作为标准件的可行性,并修正了测试系统的十二项误差和夹具误差。
关键词 微波晶体管 自动测试 网络分析仪
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