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基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化
1
作者
沈锺杰
张一圣
+1 位作者
孔锐
王建超
《现代电子技术》
北大核心
2024年第2期16-20,共5页
利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次...
利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次为解决上述问题,对测试码的生成以及PCB的布局等进行一系列改进,并将改进前后的测试值与典型值进行对比。结果表明,改进措施成效显著,大大优化了高速DAC射频参数的测试指标,使得SFDR等高频DAC动态类参数指标接近或达到实装测试值。
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关键词
集成电路
自动测试设备(ATE)
高速数模转换器
射频参数
SFDR参数
测试码
PCB测试板
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职称材料
题名
基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化
1
作者
沈锺杰
张一圣
孔锐
王建超
机构
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出处
《现代电子技术》
北大核心
2024年第2期16-20,共5页
文摘
利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次为解决上述问题,对测试码的生成以及PCB的布局等进行一系列改进,并将改进前后的测试值与典型值进行对比。结果表明,改进措施成效显著,大大优化了高速DAC射频参数的测试指标,使得SFDR等高频DAC动态类参数指标接近或达到实装测试值。
关键词
集成电路
自动测试设备(ATE)
高速数模转换器
射频参数
SFDR参数
测试码
PCB测试板
Keywords
integrated circuit
ATE
high‐speed DAC
RF parameter
spurious free dynamic range(SFDR)parameter
testing code
PCB testing board
分类号
TN407‐34 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化
沈锺杰
张一圣
孔锐
王建超
《现代电子技术》
北大核心
2024
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