UC3525用于光电测量系统的反馈控制

首次将脉宽调制控制芯片（ＵＣ３５２５）用于激光扫描测量系统，解决了激光扫描测量中因不同材料对激光的散射光强不同、不同曲面对激光光强反射各异以及物体表面镜面反射等问题给测量精度带来的严重影响［１］，利用激光扫描系统中的摄像机直接作为光强反馈系统，实现了测量过程中的光强自动控制，有效地降低了光强饱和等问题给测量带来的误差。

脉宽调制器可靠性评估电路的设计与应用

本文介绍一种评价脉宽调制器可靠性和工艺控制水平的评估电路设计。它是针对Ｘ１５２５脉宽调制器的小批量试制和贯标而设计的。通过微电子测试图形对工艺的控制检测，和单机理失效的评估来对Ｘ１５２５的可靠性进行评价。该电路也适用于一般的双极ＩＣ的可靠性评估。文章给出了多种微电子测试图形及单机理评估电路和单元评估电路。