基于集成学习策略的网络恶意流量检测技术研究

网络流量是网络攻击的主要载体,对恶意流量识别与分析是保障网络安全的重要手段.机器学习方法已广泛应用于恶意流量识别,能实现较高精度的识别.在现有的方法中,融合模型较单一统计模型更准确,但对网络行为的挖掘深度不足.提出一种面向恶意流量识别的多层次网络特征的堆叠模型Multi-Stacking,利用网络流量在不同会话粒度的网络行为模式,结合堆叠模型对于多维数据的鲁棒拟合能力,深度挖掘恶意网络行为.通过在CICIDS2017和CICIDS2018数据集上验证多种融合模型的检测能力,综合量化比较各种检测方法,深入分析了Multi-Stacking检测方法在多类型攻击流量识别场景中的表现.实验结果表明,基于多层次堆叠的恶意流量检测方法可以进一步提升检测精度.

基于BFV同态加密神经网络参数设置实证研究

基于BFV同态加密方案的隐私安全神经网络已经越来越被人们熟知。然而在将其应用到不同场景时,用户对其众多参数设置的策略,以及这些参数设置对网络模型预测速度和预测准确率的影响还比较模糊,影响同态加密神经网络进一步推广和应用。本论文将以微软提出的Cryptonets为研究对象,以实证研究的方式对BFV密码方案中各个参数进行设置与调试,研究参数对加密解密速度、密文增长、网络预测速度、以及网络最终预测结果的影响,并给出指导建议。从实验结果中发现, 1)多项式模数N的设定对网络模型预测的准确性影响最大。较大的多项式模数将带来更高的预测精度,过小的多项式模数将使预测完全失真。BFV中其余参数的设置只对运算效率产生影响,对模型的准确性的影响不大;2)时间复杂度、空间复杂度都随着多项式模数的增加而增加。密文与明文所占空间之比为10︰1。随着多项式模数的增加,神经网络计算的时间复杂度的增加要快于多项式模数的增长。3)在神经网络不同层级中,池化层和卷积层是同态加密神经网络中计算耗时最长的层级,增大卷积核的尺寸可以有助于提高效率。总之,研究同态加密神经网络中的参数配置对于其在不同应用领域中的性能至关重要。本文对不同参数对计算效率和预测准确性的影响的研究,使我们能够更明智地选择参数和设计网络。随着同态加密在隐私安全机器学习中的更广泛应用,未来还需要进一步研究其他密码方案的参数配置及其对性能的影响。

一种3D堆叠集成电路中间绑定测试时间优化方案

中间绑定测试能够更早地检测出3D堆叠集成电路绑定过程引入的缺陷,但导致测试时间和测试功耗剧增.考虑测试TSV、测试管脚和测试功耗等约束条件,采用整数线性规划方法在不同的堆叠布局下优化中间绑定测试时间.与仅考虑绑定后测试不同,考虑中间绑定测试时,菱形结构和倒金字塔结构比金字塔结构测试时间分别减少4.39%和40.72%,测试TSV增加11.84%和52.24%,测试管脚减少10.87%和7.25%.在测试功耗约束下,金字塔结构的测试时间增加10.07%,而菱形结构和倒金字塔结构测试时间只增加4.34%和2.65%.实验结果表明,菱形结构和倒金字塔结构比金字塔结构更具优势.

5G系统安全测试与自动化

随着5G网络与垂直行业的深度融合和大规模应用,保障5G网络和系统的安全性愈发关键和重要。5G网络和系统安全涉及多个方面,检验5G网络和系统安全的测试方法可以从3个方面展开:一是依据3GPP组织为保障5G网络系统设备安全性提出的安全保障规范(SCAS系列文件,这一系列规范的核心是TS 33.501 5G安全架构和流程中提出的5G网络安全要求)中的测试用例,对5G网络设备做逐项安全测试;二是根据5G网络应用的具体部署和相应网络拓扑下的切片、下沉MEC、网元和接口做安全协议一致性测试;三是针对5G网络系统控制和用户面中存在的异常消息与流程进行模糊测试和可编程协议栈测试,以挖掘5G网络系统潜在的安全隐患和漏洞。SCAS安全用例测试自动化和模糊测试与可编程协议栈测试自动化是面向5G设备安全测试市场需求提出的国产化测试工具集,可极大推动5G安全测试的实施和5G产业的发展。

考虑工作负载影响的电路老化预测方法

晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素.文中基于晶体管老化效应的物理模型,提出一种电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化.首先计算出在最坏操作情况下电路老化的上限值;随后通过考虑工作负载和电路的逻辑拓扑对老化效应的影响,采用非线性规划求得会导致最大电路老化的最差占空比组合.实验结果表明,与同类方法相比,该老化分析框架对电路老化的预测具有更高的精度,更接近于电路在实际工作条件下的老化情况.

基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

SoC(System-on-a-Chip)芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP(Intellectual Property)核将不可避免地被集成在SoC芯片当中.对于端口非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE(Automatic Test Equipment)设备的测试通道上,由此,对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战.在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC(Analog-to-Digital Converter)以及DAC(Digita-l to-Analog Converter)IP核的性能参数测试方法.对于端口非测试复用ADC和DAC IP核,首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF(External Memory Interface)总线对其进行配置.在对ADC和DAC IP核进行配置以后,就可以通过V93000捕获ADC IP核采样得到的数字代码以及通过V93000采样DAC IP核转换得到的模拟电压值,并由此计算ADC以及DAC IP核的性能参数.实验结果表明,本文分别提出的针对端口非测试复用ADC以及DAC IP核测试方案非常有效.

一种共游程码的测试数据压缩方案

提出了一种新的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法:共游程码(SRLCS)编码,它在使用较短的代码字来代替较长的游程的传统游程编码基础上,进一步充分利用了相邻游程之间的相关性,使用一位来代替与前一游程相同的整个后一游程,这样整个后一游程可以用一位来表示,达到从多位到一位的转换,进一步压缩了测试数据.由于测试数据中存在大量的无关位,对无关位适当的赋值,可以增加连续游程长度相同的概率,提出了一种针对共游程码的无关位填充算法.理论分析和实验结果证明该方案具有高数据压缩率、硬件实现简单等特点.

下一代总线标准PCI Express

分析了PCI总线标准的缺陷,介绍了PCIExpress总线产生的背景和PCIExpress总线的主要技术优势.剖析了PCIExpress总线的系统架构和分层的体系结构,并对每一个层次给出了详细说明.描述了PCIExpress总线物理连接器的结构.

基于模型检测工具NuSMV的功能测试用例生成方法

对现今已有的基于模型检测的测试用例生成方法以及覆盖准则进行了研究,在此基础上设计一个基于模型检测工具Nu SMV生成功能测试用例的方法。首先,从被测系统状态图入手,经过抽象映射成Nu SMV支持的模型验证器(SMV)模型;其次,将测试覆盖标准以CTL时序逻辑公式给出,并设计出陷阱性质;最后,利用Nu SMV进行模型检测,自动获得反例集,在去除冗余后,自动生成能够满足变换覆盖和状态覆盖的功能测试用例集。实验结果表明,该方法能够生成满足变换覆盖和状态覆盖的功能测试用例集,与传统方法相比,减少了测试用例生成的工作量,简化了测试用例集。

飞机壁板自动钻铆法向量测量方法研究

提出一种飞机壁板自动钻铆加工时实时测量待钻铆点处法向量的新方法。该方法利用激光测距传感器在钻铆点周围获取特征点的坐标,通过二次曲面拟合算法计算出待钻铆点处法向量,并利用MATLAB中的数值计算方法对特征点坐标的选取进行优化计算。仿真结果表明,该方法计算精度和效率较高,可适用于大型飞机机翼、机身壁板自动钻铆过程中法向量的实时检测与托架的在线调平。

基于模糊推理的软件测试度量方法

如何形成软件测试有效的成本效益策略一直以来都是软件工程的重要研究内容。许多研究者致力于软件测试的有效性和质量度量的研究并已取得大量成果。但是,软件测试中最重要的问题之一——测试度量中内在的不确定和不相关的关系仍然没有解决。由此,提出一种新的基于模糊逻辑的软件测试质量和测试有效性度量方法,探讨了基于软件质量特性和相似性推理的方法,试图解决不同测试工作任务之间的测试质量和有效性一致的问题。同时提供实验的结果证明提出的方法的可行性。

基于模糊理论和逆向推理故障诊断专家系统的研究与应用

文章根据平显系统的结构特点,结合该系统故障和症状的不确定、模糊性以及复杂性,在传统的逆向推理技术上进行了改进,采用模糊推理机制,提出了针对这一类型复杂系统故障诊断的新思路、新方法,通过对某型战机平显系统的实际应用表明,该方法简单、易行,具有较强的实用价值。

基于LabVIEW的数控机床多通道温度测量系统

基于虚拟仪器平台LabVIEW搭建了数控机床的多通道温度测量系统。从硬件和软件两个方面对多通道温度测量系统的构成进行了阐述,实际测试说明该系统对机床多部位温度测量时方便快速,抗干扰性强。

“存储＋逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计

为了缩短硅通孔的测试时间,针对符合JESD229和IEEE1149.1边界扫描协议的"存储+逻辑"3D集成电路,提出一种硅通孔可测试性设计.首先在逻辑晶片上增加控制模块,用于控制存储晶片的边界扫描链;然后通过修改逻辑晶片上原有边界扫描链结构,实现串联和并联2种与存储晶片边界扫描链连接的模式;最后在逻辑晶片上增加寄存器,以保存测试过程所使用的配置比特,控制整体测试流程.实验数据表明,该设计仅比原有的IEEE1149.1边界扫描电路增加了0.4%的面积开销,而测试时间缩短为已有工作的1?6.

大型复杂系统故障隔离智能优化策略

大型复杂系统的故障隔离是系统维修的重要环节,现有的故障隔离算法存在平均故障隔离时间(MFIT)长,不能快速自动生成决策树等缺点。利用AO*算法自动构造决策树,将离散粒子群算法应用于AO*算法的每一个节点的测试选择,降低计算复杂度,使故障隔离策略智能化。实例表明:该算法将故障隔离时间缩短20%,并降低测试代价,提高故障隔离效率,为大型复杂系统故障隔离提供一种高效算法。

TSV数量限制下的3D NoC测试优化方法

针对TSV数量限制下的3D No C测试,如何在功耗约束条件下充分利用有限的TSV资源快速地完成3D No C测试,这属于NP难问题,采用基于云模型的进化算法对有限的TSV资源进行位置寻优,以及对通信资源进行分配研究,在满足功耗约束以及路径不冲突条件下调度测试数据,以实现芯核的最大化并行测试,减少测试时间。以ITC’02测试标准电路作为实验对象,实验结果表明,本文方法可以有效地进行TSV的位置寻优以及资源的合理分配,从而提高TSV利用率,减少测试时间。

采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法

为了应对集成电路老化对电子系统可靠性带来的威胁,提出一种应用关键路径漏电流变化进行负偏置温度不稳定性老化预测的方法.首先用被测芯片在一组测量向量敏化下的漏电流变化构成一个方程组,通过解方程组得到关键路径门电路的漏电流变化;然后通过漏电流变化与时延变化的关联模型,将漏电流变化转换得到门电路延迟变化;最后通过关键路径延迟变化来预测电路老化.对实验电路的仿真结果表明,该方法可用来预测负偏置温度不稳定性引起的电路老化,并且可通过增加测量时间来避免工艺偏差对预测精度的影响.

一种相对游程长度编码方案

提出一种相对游程长度编码方案,以在不增加待编码数据中游程数量的情况下,达到减少待编码游程长度的目的,即通过缩短代码字长度来提高压缩效果。对ISCAS89部分基准电路的实验结果显示,提出的方案在压缩效率和解压结构方面都明显优于Golomb码、FDR码、EFDR等同类方案。

基于LabVIEW的发动机性能测试系统的研究

在虚拟仪器技术上开发了发动机性能测试系统。该系统是利用图像语言LabVIEW编制的,在对转速和油门实行控制的条件下,能够进行速度特性试验、负荷特性试验;而且能实时地显示发动机性能的各种参数值;并且能把这些数据存储到计算机中,便于管理。该系统能够保证各测量参数和控制参数的精度,并通过实际测试对该系统进行了检验,测试结果准确地反映了发动机的实际工作状况。

支持多播路径传输的片上网络并行测试方法

针对基于NoC互连方式,具有多播路径传输功能的多核系统芯片,提出多播路径测试方法(Multicast paths testing method,MPTM)。首先,提出同构核的测试访问路径生成(test access path generation,TAPG)算法,消除路径死锁。其次,提出了支持片上响应比较的多播测试机制。最后,利用NoC中的虚通道设计,优化多条测试访问路径组合。实验结果表明,本方法比串行测试方法至少减少85%的测试时间;随着网络规模的扩大,效果更好。实验证明,同构核的集中分布也有利于进一步减少测试时间。