微处理器在微区薄层电阻测试Mapping技术中的应用

本文利用微区薄层电阻测试的一种斜置四探针新方法，将扩散微区薄层电阻测试结果绘成全片的灰度图，这种微区薄层电阻测试Mapping技术十分有利于评价材料的质量。在测试过程中应用微处理器，可立即数字显示相应的测量电压及微区的薄层电阻，加快了计算速度并有利于控制探针的合适位置。

微处理器在微区薄层电阻测试Mapping技术中的应用

利用微区薄层电阻测试的一种斜置四探针新方法，将扩散微区薄层电阻测试结果绘成全片的灰度图，这种Ｍａｐｐｉｎｇ技术十分有利于评价材料的质量。在测试过程中应用微处理器，可立即数字显示相应的测量电压及微区的薄层电阻，加快了计算速度并有利于控制探针的合适位置。

量子点探针技术用于肝癌、乳腺癌的分子靶向诊断研究

癌症是影响人类生存的重大疾病，分子靶向诊断与治疗在肿瘤诊断中发挥着重要作用，肿瘤标志物是分子靶向诊断与治疗的前提，在肿瘤诊断、预后判断、治疗选择及随访监测中均发挥了重要作用，但目前对肿瘤标志物诊断的敏感性有限且有效的监测与临床应用缺乏，而使其临床应用价值受限，开发一种简单、灵敏的肿瘤标志物检测技术，建立更合理的肿瘤标志物监测应用平台，

微处理器功能测试中可控性和可观察性的测试

微处理器(μP)功能测试的一个关键问题是可控性和可观察性的测试。本文提出一个复杂性较低的测试算法,它能对μP的可控性和可观察性进行功能测试,同时,能检测地址译码功能的故障。 限于篇幅,省去了繁琐的定理证明,有兴趣的读者可参阅文献[1].

微处理器软核的测试算法

针对微处理器软核测试程序工艺无关性的要求,我们提出了一种新的寄存器传输级的微处理器功能测试算法。新算法扩展了微处理器的模型表示,简化了指令的故障类型,新的指令测试方法有效地降低了测试程序的复杂度。采用该测试算法我们为自行设计的一个八位微处理器核成功地开发了测试程序。

片内调试令内嵌式系统测试简化

在过去的日子里,针对内嵌式系统进行软件测试和调试也就意味着烧入与拔插技术。编写代码,检查它,然后烧入EPROM,接着运行程序或是拔插E-PROM。如果系统不能工作,你就得修改代码,重新烧入另一块EPROM,重复这个动作直到系统能正常工作为止。诸如此类。 现在你可以充分利用调试和测试工具库给你带来的好处:片内调试(OCD),或者又称为后台调试模式。微处理器制造商已经将芯片具有OCD能力当作惯例。你也可以在内嵌式系统中利用OCD来对硬件和软件进行调试。

MMX丰富桌面功能

Intel的第五代CPU有了新的改观:57条新的用于加速多媒体任务的指令。PC Labs测试了12种第一代具有MMX技术的Pentium PC。