GMTS系统软件的设计与实现

本文介绍了高速通用存储测试系统ＧＭＴＳ系统软件的设计与实现。该系统软件的设计应用了面向对象技术，集界面操作、硬件功能应用于一体。使ＧＭＴＳ系统达到了高效、方便、实用的设计目的。

加电自检中MMU的功能检测分析

结合ＳＰＡＲＣ２０工作站ＭＭＵ的操作及其执行机制，通过对加电自检程序的分析．对ＳＰＡＲＣ Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ＭＭＵ检测机制进行了研究，给出了检测的内容及其实现算法。

瞬态过程分析测试系统

介绍一种基于PC机的瞬态过程分析测试系统,该系统可用于爆炸、光脉冲、振动和材料破坏等各种非周期性随机信号的分析测试;系统采样速度四档可调,最高可达20MHz,其它分别为10MHz,5MHz和2.5MHz,以适用于不同速度的信号。采用数据存储与计算机复用存储器技术,计算机可马上对所采集的数据进行处理,免去数据传送的过程,用存储器页面管理虚存技术,解决了大数据量存储问题;用交叉存储技术,解决了存储器速度慢的瓶颈问题。

自适应存储测试的研究与实践

本文较系统地介绍了自适应存储的概念，意义以及实时自适应数据压缩的实现方法。文章详细地叙述了作为自适应采集存储的主控芯片的ＨＴ９６０１的原理，流程图以及研制结果。在本文的最后还介绍了自适应采集存储测试系统的构成与实践结果。

存储器测试算法的实现

存储器测试算法的选择以及测试的实现方法是存储器测试的关键。本文在对存储器的故障模型分析的基础上,对具有代表性的测试算法进行了深入的研究,并采用软件实现法将一些典型的测试图形在我所的BDS-9110测试论断系统上进行了实现,生成了存储器检测图形库。利用该图形库作者对980JX系统的存储器模块980/164进行了测试。在研究和实验的基础上,对O(N)类的跨步算法进行了优化。

多次重触发技术的研究

多次重触发技术在存储测试系统中的应用,是针对引信运输安全模拟实验的多次磕碰冲击测试以及齿轮轮齿多次啮合过程弯曲应力而提出的.对每次重触发记录的起始地址进行锁存,以便读数时直接找到该次记录的真实起点,无须利用程序调整.该研究对重触发技术在存储测试系统中的应用具有重要意义.

信息理论在存储测试系统设计中的应用研究

以测试信息传输为核心，应用信息理论的有关成果研究存储测试系统的信息传输模型、信道容量、抗干扰容限，以及信息传输速率与信号能量之间的关系。

可擦写存储器及测试编程

目前，在微机系统及计算机应用领域，尚大量使用EPROM器件。严格测试这些器件的逻辑功能和直流、交流参数是十分必要的。文章首先粗略介绍了这类器件的一般工作原理、数据写入及擦除过程，然后，在多年实践的基础上，叙述了对EPROM进行智能编程、快速编程的方法及注意事项。最后，介绍了直流参数及交流参数的测试要点。

串行EEPROM器件及其测试程序设计

近几年串行EEPROM广泛应用于智能卡、蜂窝电话、SIM模式识别、网络节点ID的存储等方面,因此很有必要了解这一器件的操作情况及测试程序设计方法,以便于更好地使用它和维护机器。本文以24C16为典型介绍的测试编程方法,同样适用于MPSX8404、X25043等门类的EEPROM。

读/写存贮器RAM2114功能测试及使用

通过对RAM2114存贮器的功能测试能够正确地使用集成存贮器2114芯片。

微处理器的自测试和容错设计

在本文中提出了一种新的自测试方法,适用于(1)对所有可能的故障进行诊断和报警,(2)确定最佳复试策略,(3)使系统从故障状态中恢复正常工作,经过微处理器实用试验,证明是行之有效的方法。

利用BIST技术测试并诊断嵌入式存储器

目前,绝大多数集成电路(IC)都设计有嵌入式存储器,IC的复杂化要求对它进行比传统的合格/不合格更深入一步的测试。随着IC几何尺寸日益浓缩,在制作工艺中应实现诊断测试和内置自修复(BISR)等新技术。在片上系统中,嵌入式存储器是最密集的器件,约占总面积的90％;它也是对工艺中的缺陷最敏感的器件,在片上系统内对它进行充分的测试是十分必要的。

击穿电荷(QBD):监测E^2PROM中超薄隧道氧化层的一种方法(英文)

本文采用恒定电流应力的ＱＢＤ测试来描述超薄隧道氧化层的质量。Ｅ２ＰＲＯＭ失效的内在机理是由于隧道氧化层中的电荷陷阱。并同时绘出了ＱＢＤ的测试方法。测试表明，使用８ｎｍ隧道氧化层，ＱＢＤ＞５Ｃ／ｃｍ２时，可获得高质量的Ｅ２ＰＲＯＭ电路，擦／写次数可超过１００万次。

随机存储器的故障诊断

用随机测试的方法进行RAM的故障诊断,给出了故障定位的算法,利用该算法能方便地对可能发生在RAM存储器中的故障进行诊断与定位。

机内自检技术的研究

随着存储器容量的增加,要求测试速度也得跟上。本文介绍了机内自检(BIST)技术,它的发展与应用。

降低存储器件的测试成本

对用户来说,日益增长的存储器件的容量、速度和复杂程度是一个好事,但对制造商却是个挑战性的问题。存储器制造业常花大力气降低生产成本,特别是测试成本。