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EPROM系列电路测试程序设计
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作者 栗学忠 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1996年第6期54-57,共4页
简要介绍了EPROM存储器的工作原理;着重介绍了用程序设计对EPROM电路功能的测试方法。
关键词 功能测试 程序设计 存储器 半导体集成电路
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铁电存储单元的设计和测试 被引量:1
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作者 洪晓菁 俞承芳 +4 位作者 虞惠华 汤庭鳌 姚海平 李宁 钟琪 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1999年第1期43-51,共9页
基于被应用于实际设计之中的统一的铁电器件模型,详细讨论了2T2C组态的铁电破坏性读出存储器单元的设计。在此基础上,设计和制造了分立元件的单元测试电路。通过与普通电容的对比实验,证实了铁电破坏性读出随机读取存储器与普... 基于被应用于实际设计之中的统一的铁电器件模型,详细讨论了2T2C组态的铁电破坏性读出存储器单元的设计。在此基础上,设计和制造了分立元件的单元测试电路。通过与普通电容的对比实验,证实了铁电破坏性读出随机读取存储器与普通随机读取存储器不同的工作原理和模式。进而获得了被测FRAM单元的特性波形和铁电材料存储特性的有关数据。这些工作为进一步进行大规模铁电存储器的研究作了准备。 展开更多
关键词 存储器 测试 铁电器件 设计
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