期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
通用数字IC芯片功能测试系统 被引量:1
1
作者 武显荣 《工业仪表与自动化装置》 1991年第5期20-22,共3页
本文介绍了基于IBM PC系列机及其兼客机的通用数字IC功能测试系统。该测试系统为数字系统开发、调试、诊断和维护提供了方便的工具。
关键词 微机 功能测试系统 集成电路
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部