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单片微机系统RAM自检的研究
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作者 李力 林凌 《测控技术》 CSCD 1997年第4期25-26,共2页
在各种单片微机测控系统中,RAM的正常与否直接关系到该系统的正常工作,RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系统带来的损害。本文讨论了单片微机应用系统中RAM自检的方法。
关键词 RAM 自检 单片机 微机测试
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袖珍计算机PCPB型系统RAM扩展模块常见故障与维修
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作者 朱杰 《电子与电脑》 1992年第4期46-47,共2页
关键词 微机 RAM 故障
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