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单片微机系统RAM自检的研究
1
作者
李力
林凌
《测控技术》
CSCD
1997年第4期25-26,共2页
在各种单片微机测控系统中,RAM的正常与否直接关系到该系统的正常工作,RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系统带来的损害。本文讨论了单片微机应用系统中RAM自检的方法。
关键词
RAM
自检
单片机
微机测试
下载PDF
职称材料
袖珍计算机PCPB型系统RAM扩展模块常见故障与维修
2
作者
朱杰
《电子与电脑》
1992年第4期46-47,共2页
关键词
微机
RAM
故障
下载PDF
职称材料
题名
单片微机系统RAM自检的研究
1
作者
李力
林凌
机构
江苏理工大学机电学院
天津大学
出处
《测控技术》
CSCD
1997年第4期25-26,共2页
文摘
在各种单片微机测控系统中,RAM的正常与否直接关系到该系统的正常工作,RAM的自检可有效地避免RAM不正常工作给系统带来的损害。本文讨论了单片微机应用系统中RAM自检的方法。
关键词
RAM
自检
单片机
微机测试
Keywords
RAM, Self-checking, microcontroller
分类号
TP363.806 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
袖珍计算机PCPB型系统RAM扩展模块常见故障与维修
2
作者
朱杰
出处
《电子与电脑》
1992年第4期46-47,共2页
关键词
微机
RAM
故障
分类号
TP363.806 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
单片微机系统RAM自检的研究
李力
林凌
《测控技术》
CSCD
1997
0
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职称材料
2
袖珍计算机PCPB型系统RAM扩展模块常见故障与维修
朱杰
《电子与电脑》
1992
0
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