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(100)硅片的各向异性腐蚀及微反射镜的制作
1
作者
纪平
潘建旋
+6 位作者
徐宝琨
董玮
陈维友
刘彩霞
张歆东
贾翠萍
张龙
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第0Z2期151-154,共4页
在(100)硅片上进行各向异性腐蚀时,能暴露垂直的{100}面、倾角为45°的{110}面和倾角54°的{111}面,{111}面是沿着<100>方向形成的,{100}和{110}面是沿着<100>方向形成的。用纯KOH水溶液和KOH+IPA(异丙醇)...
在(100)硅片上进行各向异性腐蚀时,能暴露垂直的{100}面、倾角为45°的{110}面和倾角54°的{111}面,{111}面是沿着<100>方向形成的,{100}和{110}面是沿着<100>方向形成的。用纯KOH水溶液和KOH+IPA(异丙醇)混合水溶液在(100)硅片上沿<100>方向腐蚀所暴露的平面是不同的,使用纯KOH水溶液总是能暴露与衬底垂直的{100}面,在使用KOH+IPA混合溶液时,当KOH的浓度较低的,暴露与裤底倾角是45℃的{110}面,当KOH溶度高于50%时,暴露出光滑且与衬底垂直的{100}面。根据这一结论,使用KOH浓度高于50%的KOH+IPA混合水溶液,在(100)硅片上沿着<100>方向制作出微反射镜,微镜的表面粗糙度低于100nm。
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关键词
(
100
)
硅片
各向异性腐蚀
微反射镜
制作工艺
纯KOH水溶液
表面粗糙度
倾角
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职称材料
题名
(100)硅片的各向异性腐蚀及微反射镜的制作
1
作者
纪平
潘建旋
徐宝琨
董玮
陈维友
刘彩霞
张歆东
贾翠萍
张龙
机构
吉林大学电子科学与工程学院集成光电子学国家重点实验室
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第0Z2期151-154,共4页
文摘
在(100)硅片上进行各向异性腐蚀时,能暴露垂直的{100}面、倾角为45°的{110}面和倾角54°的{111}面,{111}面是沿着<100>方向形成的,{100}和{110}面是沿着<100>方向形成的。用纯KOH水溶液和KOH+IPA(异丙醇)混合水溶液在(100)硅片上沿<100>方向腐蚀所暴露的平面是不同的,使用纯KOH水溶液总是能暴露与衬底垂直的{100}面,在使用KOH+IPA混合溶液时,当KOH的浓度较低的,暴露与裤底倾角是45℃的{110}面,当KOH溶度高于50%时,暴露出光滑且与衬底垂直的{100}面。根据这一结论,使用KOH浓度高于50%的KOH+IPA混合水溶液,在(100)硅片上沿着<100>方向制作出微反射镜,微镜的表面粗糙度低于100nm。
关键词
(
100
)
硅片
各向异性腐蚀
微反射镜
制作工艺
纯KOH水溶液
表面粗糙度
倾角
分类号
TN305.2 [电子电信—物理电子学]
TH74 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
(100)硅片的各向异性腐蚀及微反射镜的制作
纪平
潘建旋
徐宝琨
董玮
陈维友
刘彩霞
张歆东
贾翠萍
张龙
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
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