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Silicon nanowire formed via shallow anisotropic etching Si-ash-trimming for specific DNA and electrochemical detection
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作者 Tijjani Adam U.HAshim Th S.Dhahi 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第6期607-612,共6页
A functionalized silicon nanowire field-effect transistor (SiNW FET) was fabricated to detect single molecules in the pM range to detect disease at the early stage with a sensitive, robust, and inexpensive method wi... A functionalized silicon nanowire field-effect transistor (SiNW FET) was fabricated to detect single molecules in the pM range to detect disease at the early stage with a sensitive, robust, and inexpensive method with the ability to provide specific and reliable data. The device was designed and fabricated by indented ash trimming via shallow anisotropic etching. The approach is a simple and low-cost technique that is compatible with the current commercial semiconductor standard CMOS process without an expensive deep reactive ion etcher. Specific electric changes were observed for DNA sensing when the nanowire surface was modified with a complementary captured DNA probe and target DNA through an organic linker (--OCH2CH3) using organofunctional alkoxysilanes (3-aminopropyl) triethoxysilane (APTES). With this surface modification, a single specific target molecule can be detected. The simplicity of the sensing domain makes it feasible to miniaturize it for the development of a cancer detection kit, facilitating its use in both clinical and non-clinical environments to allow non-expert interpretation. With its novel electric response and potential for mass commercial fabrication, this biosensor can be developed to become a portable/point of care biosensor for both field and diagnostic applications. 展开更多
关键词 silicon nanowire BIOSENSOR specific DNA detection anisotropic etching Si-ash-trimming semi-conductor pH sensor
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A Novel Silicon Etching Method Using Vapor of Tetramethylammonium Hydroxide Solution
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作者 Jian He Yue-fang Zhao +3 位作者 Fang-liang Xu Dong-yang Zhao Xiao-juan Hou Xiu-jian Chou 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE CAS CSCD 2020年第6期769-774,I0003,共7页
Silicon bulk etching is an important part of micro-electro-mechanical system(MEMS) technology. In this work, a novel etching method is proposed based on the vapor from tetramethylammonium hydroxide(TMAH) solution heat... Silicon bulk etching is an important part of micro-electro-mechanical system(MEMS) technology. In this work, a novel etching method is proposed based on the vapor from tetramethylammonium hydroxide(TMAH) solution heated up to boiling point. The monocrystalline silicon wafer is positioned over the solution surface and can be anisotropically etched by the produced vapor. This etching method does not rely on the expensive vacuum equipment used in dry etching. Meanwhile, it presents several advantages like low roughness, high etching rate and high uniformity compared with the conventional wet etching methods. The etching rate and roughness can reach 2.13 μm/min and 1.02 nm, respectively. Furthermore,the diaphragm structure and Al-based pattern on the non-etched side of wafer can maintain intact without any damage during the back-cavity fabrication. Finally, an etching mechanism has been proposed to illustrate the observed experimental phenomenon. It is suggested that there is a water thin film on the etched surface during the solution evaporation. It is in this water layer that the ionization and etching reaction of TMAH proceed, facilitating the desorption of hydrogen bubble and the enhancement of molecular exchange rate. This new etching method is of great significance in the low-cost and high-quality micro-electromechanical system industrial fabrication. 展开更多
关键词 silicon bulk etching Micro-electro-mechanical system Tetramethylammo-nium hydroxide solution anisotropic etching
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A New Model for the Etching Characteristics of Corners Formed by Si<sub>{111}</sub>Planes on Si<sub>{110}</sub>Wafer Surface
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作者 Prem Pal Sajal Sagar Singh 《Engineering(科研)》 2013年第11期1-8,共8页
The etching characteristics of concave and convex corners formed in a microstructure by the intersection of {111} planes in wet anisotropic etchant are exactly opposite to each other. The convex corners are severely a... The etching characteristics of concave and convex corners formed in a microstructure by the intersection of {111} planes in wet anisotropic etchant are exactly opposite to each other. The convex corners are severely attacked by anisotropic Fetchant, while the concave corners remain unaffected. In this paper, we present a new model which explains the root cause of the initiation and advancement of undercutting phenomenon at convex corners and its absence at concave corners on {110} silicon wafers. This contrary etching characteristics of convex and concave corners is explained by utilizing the role of dangling bond in etching process and the etching behavior of the tangent plane at the convex corner. The silicon atoms at the convex edge/ridge belong to a high etch rate tangent plane as compared to {111} sidewalls, which leads to the initiation of undercutting at the convex corner. On the other hand, all the bonds of silicon atoms pertaining to concave edges/ridge are engaged with neighboring atoms and consequently contain no dangling bond, thus resulting in no-undercutting at concave edges/corners. 展开更多
关键词 MEMS silicon anisotropic etching Micromachining KOH TMAH Convex CORNER Concave CORNER
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Fabrication of Silicon Crystal-Facet-Dependent Nanostructures by Electron-Beam Lithography
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作者 杨香 韩伟华 +2 位作者 王颖 张杨 杨富华 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第6期1057-1061,共5页
Silicon crystal-facet-dependent nanostructures have been successfully fabricated on a (100)-oriented silicon-oninsulator wafer using electron-beam lithography and the silicon anisotropic wet etching technique. This ... Silicon crystal-facet-dependent nanostructures have been successfully fabricated on a (100)-oriented silicon-oninsulator wafer using electron-beam lithography and the silicon anisotropic wet etching technique. This technique takes advantage of the large difference in etching properties for different crystallographic planes in alkaline solution. The minimum size of the trapezoidal top for those Si nanostructures can be reduced to less than 10nm. Scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) observations indicate that the etched nanostructures have controllable shapes and smooth surfaces. 展开更多
关键词 silicon nanostructure anisotropic wet etching electron-beam lithography
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TMAH溶液中的(110)硅各向异性湿法腐蚀及其在不同添加剂下的腐蚀特性研究 被引量:5
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作者 陈骄 董培涛 +1 位作者 邸荻 吴学忠 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2011年第2期185-189,共5页
研究了TMAH溶液中(110)硅片在不同几何形状掩膜窗口下的各向异性湿法腐蚀行为,探讨了(110)硅在TMAH与不同添加剂(过硫酸铵、异丙醇等)构成的腐蚀系统下的腐蚀特性。利用场发射扫描电子显微镜(SEM)观测(110)硅的腐蚀坑腔结构,利用扫描探... 研究了TMAH溶液中(110)硅片在不同几何形状掩膜窗口下的各向异性湿法腐蚀行为,探讨了(110)硅在TMAH与不同添加剂(过硫酸铵、异丙醇等)构成的腐蚀系统下的腐蚀特性。利用场发射扫描电子显微镜(SEM)观测(110)硅的腐蚀坑腔结构,利用扫描探针显微镜(SPM)测量(110)硅腐蚀的表面粗糙度。结果表明:(110)硅片腐蚀的坑腔结构与掩膜窗口的大小和腐蚀时间有关;在充分腐蚀的情况下,(110)硅片腐蚀的坑腔结构是由四个与表面垂直的(111)面和另外两个与表面成35.26°夹角的(111)面围成的结构;过硫酸铵和异丙醇能显著改善腐蚀表面质量。 展开更多
关键词 湿法各向异性腐蚀 (110)硅 TMAH 过硫酸铵 异丙醇
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用(110)硅面各向异性腐蚀的凸角结构制作微米针管 被引量:1
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作者 郑川 徐晓刚 高文秀 《中国机械工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第13期1161-1164,共4页
描述了一种用(110)晶面硅片制造微米针管的新方法。利用硅晶面在各向异性腐蚀中出现的凸角结构形成针管的三维构造,针管内径约10μm,外径约90μm,长度约500μm。整个针管结构平坦,便于与微泵等其他MEMS器件相接合,用于无痛皮下注射器和... 描述了一种用(110)晶面硅片制造微米针管的新方法。利用硅晶面在各向异性腐蚀中出现的凸角结构形成针管的三维构造,针管内径约10μm,外径约90μm,长度约500μm。整个针管结构平坦,便于与微泵等其他MEMS器件相接合,用于无痛皮下注射器和生化采样等。微米针管的制作工艺相对简单,材料廉价,适合于工业化批量生产。 展开更多
关键词 微米针管 MEMS 各向异性腐蚀 凸角结构 (110)晶面
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Fabrication-Technology Research of New Type Silicon Magnetic-Sensitive Transistor 被引量:1
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作者 Xiaofeng Zhao Dianzhong Wen 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2006年第A03期492-494,共3页
This paper mainly describes a research of fabrication-technology of silicon magnetic-sensitive transistor (SMST) with rectangle-plank-cubic structure fabricated on silicon wafer by MEMS technique.An experiment researc... This paper mainly describes a research of fabrication-technology of silicon magnetic-sensitive transistor (SMST) with rectangle-plank-cubic structure fabricated on silicon wafer by MEMS technique.An experiment research on basic characteristic of the silicon magnetic-sensitive transistor was done.Anisotropic etching and reliable technique project were provided and applied in order to fabricate SMST with rectangle-plank-cubic construction.This means that a new kind of fabrication technology for silicon magnetic-sensitive transistor was provided.The result shows that the technique can be not only compatible with IC technology but also integrated easily,and has a wide application field. 展开更多
关键词 silicon magnetic-sensitive transistor(SMST) MEMS anisotropic etching of silicon IC technology
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Fabrication of Congo Red/Oxidized Porous Silicon (CR/OPS) pH-Sensors
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作者 Abdel-Hady Kashyout Hesham M. A. Soliman +1 位作者 Marwa Nabil Ahmed A. Bishara 《Materials Sciences and Applications》 2013年第8期79-87,共9页
The fabrication of nano porous silicon, nPSi, using alkali etching process has been studied and carried out. The surface chemistry of anisotropic etching of n-type Si-wafer is reviewed and the anisotropic chemical etc... The fabrication of nano porous silicon, nPSi, using alkali etching process has been studied and carried out. The surface chemistry of anisotropic etching of n-type Si-wafer is reviewed and the anisotropic chemical etching of silicon in alkaline solution using wetting agents is discussed. Transformation of crystallographic plane of n-Si (211) to nPSi (100) has occurred on using n-propanol as wetting agent. The rate of pore formation was 0.02478 - 0.02827 μm/min, which was heavily dependent upon the concentration of the etchant containing wetting agents, allowing patterned porous silicon formation through selective doping of the substrate. A particle size of 15 nm for porous nano-silicon was calculated from the XRD data. Porosity of PS layers is about 10%. Pore diameter and porous layer thickness are 0.0614 nm and 16 μm, respectively. The energy gap of the produced porous silicon is 3.3 eV. Furthermore, the combination of PS with Congo Red, which are nanostructured due to their deposition within the porous matrix is discussed. Such nano compounds offer broad avenue of new and interesting properties depending on the involved materials as well as on their morphology. Chemical route was utilized as the host material to achieve pores filling. They were impregnated with Congo Red, which gave good results for the porous silicon as a promising pH sensor. 展开更多
关键词 Nano POROUS silicon anisotropic etching Process ALKALI etching CONGO Red PH Sensor
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国产电阻阵列技术的发展趋势 被引量:21
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作者 马斌 程正喜 +5 位作者 翟厚明 郭中原 刘强 张学敏 丁毅 陈瑶 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2011年第12期2314-2322,2327,共10页
回顾和总结了国产电阻阵列3个发展阶段的主要技术方案、优缺点和最终结果。第一代64×64电阻阵列采用了体材料微机械加工的单晶硅薄膜微型电阻,成品率较高但与CMOS工艺不兼容、均匀性差、功耗大、占空比极低、规模小;第二代128×... 回顾和总结了国产电阻阵列3个发展阶段的主要技术方案、优缺点和最终结果。第一代64×64电阻阵列采用了体材料微机械加工的单晶硅薄膜微型电阻,成品率较高但与CMOS工艺不兼容、均匀性差、功耗大、占空比极低、规模小;第二代128×128和256×256电阻阵列采用了体材料微机械加工的复合薄膜微型电阻,基本解决了工艺兼容性、均匀性、功耗等方面的问题,但占空比和规模提高有限;第三代128×128复合悬浮薄膜电阻阵列采用了薄膜转移技术,占空比显著提高,功耗明显下降,该技术有望成为今后国产电阻阵列的主流制造技术,但技术成熟度有待进一步提高。最后,对国产电阻阵列未来技术发展进行了展望、分析和探讨。 展开更多
关键词 半实物仿真 电阻阵列 硅各向异性腐蚀 薄膜转移
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TMAH腐蚀液制作硅微结构的研究 被引量:13
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作者 张建辉 李伟东 +1 位作者 万红 吴学忠 《传感技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期593-596,共4页
通过各向异性腐蚀硅微结构工艺,研究了四甲基氢氧化铵(TMAH)腐蚀液的特性,包括硅(100)晶面腐蚀速率与TAMH溶液浓度、温度、pH值以及过硫酸铵添加剂的关系,并采用原子力显微镜研究了不同腐蚀条件下硅的表面形貌,研究表明随TMAH溶液的浓... 通过各向异性腐蚀硅微结构工艺,研究了四甲基氢氧化铵(TMAH)腐蚀液的特性,包括硅(100)晶面腐蚀速率与TAMH溶液浓度、温度、pH值以及过硫酸铵添加剂的关系,并采用原子力显微镜研究了不同腐蚀条件下硅的表面形貌,研究表明随TMAH溶液的浓度的降低和腐蚀温度的提高,腐蚀速率提高,硅腔的表面粗糙度增大;过硫酸铵添加剂明显改善了硅微腔的表面平整度。本研究所确定的最佳腐蚀工艺条件为溶液中TMAH浓度为25%,过硫酸铵添加剂浓度为3%,腐蚀温度80℃。在此工艺条件下腐蚀出了深度为230μm、表面粗糙度小于50nm的硅微腔。 展开更多
关键词 MEMS TMAH 硅微结构 各向异性腐蚀
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测定硅各向异性腐蚀速率分布的新方法 被引量:4
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作者 杨恒 鲍敏杭 +3 位作者 沈绍群 李昕欣 张大成 武国英 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期504-508,共5页
介绍了一种测定硅各向异性腐蚀速率分布的新方法 .硅各向异性腐蚀速率三维分布可由一系列晶面上的二维腐蚀速率分布表示 .利用深反应离子刻蚀技术 ( DRIE)在 {0 mn}硅片上制作出侧壁垂直于硅片表面的矩形槽 ,测量槽宽度在腐蚀前后的变... 介绍了一种测定硅各向异性腐蚀速率分布的新方法 .硅各向异性腐蚀速率三维分布可由一系列晶面上的二维腐蚀速率分布表示 .利用深反应离子刻蚀技术 ( DRIE)在 {0 mn}硅片上制作出侧壁垂直于硅片表面的矩形槽 ,测量槽宽度在腐蚀前后的变化 ,就可测定各 {0 mn}面上的二维腐蚀速率分布 .将二维腐蚀速率分布组合在一起就得到了三维腐蚀速率分布 .由于 DRIE制作的垂直侧壁深度大 ,可耐受较长时间的各向异性腐蚀 ,所以只需使用一般的显微镜就能得到准确的结果 .实验得到了 40 % KOH和 2 5% TMAH中 {n1 0 }和 {n1 1 展开更多
关键词 各向异性腐蚀 深反应离子刻蚀 速率分布
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快速制备单晶Si片绒面的研究 被引量:9
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作者 吴文娟 张松 +4 位作者 韩培育 覃榆森 季静佳 顾晓峰 李果华 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第2期352-358,共7页
太阳电池单晶Si片表面制绒已是一项成熟的工艺,但普遍制绒时间较长。为提高制绒效率,本课题研究了较短时间内NaOH/异丙醇(IPA)体系制绒时的温度、时间、溶液组分对绒面的影响,以及制绒前去损伤的优劣。最终实现了,在含2.5%NaOH(质量百分... 太阳电池单晶Si片表面制绒已是一项成熟的工艺,但普遍制绒时间较长。为提高制绒效率,本课题研究了较短时间内NaOH/异丙醇(IPA)体系制绒时的温度、时间、溶液组分对绒面的影响,以及制绒前去损伤的优劣。最终实现了,在含2.5%NaOH(质量百分比,下同)和10%IPA的溶液中,80℃恒温处理15 min即可制备出比较均匀的绒面。溶液中加入3%Na2SiO3,效果更佳,反射率最低可达9.5%。并发现去损伤后制绒效果并不理想,同时还研究了表面活性剂1,4-环己二醇(CHX)和十二烷基苯磺酸钠(SDBS)代替异丙醇制绒。研究发现,异丙醇仍然是性价比较好的添加剂。 展开更多
关键词 各向异性腐蚀 太阳电池 制绒 单晶Si
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各向异性腐蚀技术研究与分析 被引量:8
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作者 沈桂芬 吴春瑜 +4 位作者 姚朋军 杨学昌 刘兴辉 吕品 高嵩 《传感技术学报》 CAS CSCD 2001年第2期140-146,共7页
本文详细分析了用各向异性腐蚀技术形成的压阻式压力传感器硅杯的几种腐蚀方法 ,根据实验提出了它们的优缺点 ,介绍了几种各向异性蚀的自致停止法和腐蚀中削角的补偿方法 ,对制造微量程、高灵敏度的压力传感器有一定的指导意义 .
关键词 各向异性腐蚀 自致停止技术 压力传感器
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四甲基氢氧化铵在MEMS中的应用 被引量:6
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作者 张为 姚素英 +4 位作者 刘艳艳 王涌萍 阎富兰 田莉萍 牛秀文 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2001年第6期422-424,共3页
通过各向异性腐蚀硅杯实验 ,研究了四甲基氢氧化铵 ( TMAH)腐蚀液的特性 ,包括硅( 1 0 0 )面腐蚀速率与溶液浓度、温度的关系 ,不同腐蚀条件下硅杯的表面状况 ,并确定了制作硅杯的最佳工艺条件。通过测试硅杯结构多晶硅压力传感器的输... 通过各向异性腐蚀硅杯实验 ,研究了四甲基氢氧化铵 ( TMAH)腐蚀液的特性 ,包括硅( 1 0 0 )面腐蚀速率与溶液浓度、温度的关系 ,不同腐蚀条件下硅杯的表面状况 ,并确定了制作硅杯的最佳工艺条件。通过测试硅杯结构多晶硅压力传感器的输出特性 ,证明了 展开更多
关键词 各向异性腐蚀 微机电系统 四甲基氢氧化铵
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单晶硅各向异性湿法刻蚀的研究进展 被引量:9
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作者 唐彬 袁明权 +2 位作者 彭勃 佐藤一雄 陈颖慧 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2013年第5期327-333,共7页
单晶硅各向异性湿法刻蚀是制作硅基微电子机械系统(MEMS)器件的重要步骤之一,由于具有刻蚀均匀性好、批量大、成本低的优点而深受关注。首先回顾了单晶硅各向异性湿法刻蚀的刻蚀机理,比较了三种常用各向异性刻蚀液的刻蚀性质,讨论了刻... 单晶硅各向异性湿法刻蚀是制作硅基微电子机械系统(MEMS)器件的重要步骤之一,由于具有刻蚀均匀性好、批量大、成本低的优点而深受关注。首先回顾了单晶硅各向异性湿法刻蚀的刻蚀机理,比较了三种常用各向异性刻蚀液的刻蚀性质,讨论了刻蚀形状的控制技术。然后着重介绍了表面活性剂修饰的单晶硅各向异性湿法刻蚀速率和刻蚀表面光滑度等特性,以及面向MEMS应用的基于该刻蚀技术的各种微纳新结构;分析了表面活性剂分子在刻蚀过程中的作用,强调了表面活性剂分子在单晶硅表面的吸附性对改变刻蚀表面的物理性质的重要性。最后在此基础上,归纳了单晶硅各向异性湿法刻蚀的发展情况,探讨了其未来的发展方向。 展开更多
关键词 微电子机械系统(MEMS) 单晶硅 湿法刻蚀 各向异性 表面活性剂
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SOI高温压力传感器的研究现状 被引量:9
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作者 张书玉 张维连 +1 位作者 张生才 姚素英 《河北工业大学学报》 CAS 2005年第2期14-19,共6页
SOI(silicononinsulator)高温压力传感器是一种新型的半导体高温压力传感器,具有耐高温、抗辐射、稳定性好等优点,能够解决石油、汽车、航空、航天等领域对高温压力传感器的迫切需求,在高温领域有很大的潜力.本文论述了SOI材料的制备方... SOI(silicononinsulator)高温压力传感器是一种新型的半导体高温压力传感器,具有耐高温、抗辐射、稳定性好等优点,能够解决石油、汽车、航空、航天等领域对高温压力传感器的迫切需求,在高温领域有很大的潜力.本文论述了SOI材料的制备方法-特别是硅片直接键合技术(SDB),简单介绍了SOI压力传感器的优势、制作工艺以及SOI压力传感器的发展现状. 展开更多
关键词 压力传感器 SOI SiO2层 各向异性腐蚀 硅片直接键合 硅单晶片
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硅各向异性浅槽腐蚀实验研究 被引量:4
17
作者 杨增涛 冷俊林 +4 位作者 梅勇 黄磊 杨正兵 李燕 刘晓莉 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2011年第4期513-516,519,共5页
通过实验分析,对比了异丙醇(IPA)和超声波对Si(100)面在KOH溶液和四甲基氢氧化氨(TMAH)溶液中的浅槽腐蚀速率及其表面形态的影响。实验结果表明,IPA能降低TMAH溶液的腐蚀速率,但IPA在KOH溶液中腐蚀速率降低不明显;IPA加入到较高浓度的KO... 通过实验分析,对比了异丙醇(IPA)和超声波对Si(100)面在KOH溶液和四甲基氢氧化氨(TMAH)溶液中的浅槽腐蚀速率及其表面形态的影响。实验结果表明,IPA能降低TMAH溶液的腐蚀速率,但IPA在KOH溶液中腐蚀速率降低不明显;IPA加入到较高浓度的KOH溶液中,会在Si表面产生较大小丘,恶化了Si腐蚀表面的质量,但在TMAH溶液中加入一定量的IPA会改善腐蚀表面的质量;超声波能加快腐蚀速率并能改善Si腐蚀表面质量,但对于加入IPA的较高浓度KOH溶液,超声波未能消除Si腐蚀表面的小丘,另外,超声波还能减弱腐蚀过程中微尺寸沟槽的尺寸效应;在腐蚀条件和配比一定情况下,TMAH溶液的腐蚀质量比KOH溶液好。 展开更多
关键词 各向异性腐蚀 Si浅槽 KOH 四甲基氢氧化氨(TMAH)
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太阳能电池单晶Si表面织构化的工艺改进 被引量:6
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作者 闫宝华 檀柏梅 +3 位作者 刘玉岭 孙增标 申晓宁 张研 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2009年第11期695-699,共5页
通过实验分析Na2SiO3和Na3PO4混合溶液对〈100〉晶向的单晶Si片的各向异性腐蚀过程,探讨了Na2SiO3溶液和Na2SiO3、Na3PO4混合溶液对表面织构化的影响机制,并且对制绒前Si片的电化学清洗过程和混合溶液的反应温度和反应时间等参数的变化... 通过实验分析Na2SiO3和Na3PO4混合溶液对〈100〉晶向的单晶Si片的各向异性腐蚀过程,探讨了Na2SiO3溶液和Na2SiO3、Na3PO4混合溶液对表面织构化的影响机制,并且对制绒前Si片的电化学清洗过程和混合溶液的反应温度和反应时间等参数的变化对金字塔绒面微观形貌的影响做了分析。最终通过大量实验得到,用质量分数为4%的Na2SiO3和2%的Na3PO4混合溶液在78℃腐蚀60min,单晶Si片表面可获得最佳反射率为11.98%的减反射绒面。单晶Si片表面的反射率优于单独使用Na2SiO3溶液腐蚀,更重要的是制得了很好的均匀性表面。 展开更多
关键词 单晶硅 太阳电池 电化学清洗 绒面 各向异性腐蚀 转换效率
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真空紫外硅闪耀光栅的制作 被引量:4
19
作者 盛斌 徐向东 +2 位作者 刘颖 洪义麟 付绍军 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第1期94-99,共6页
利用单晶硅在KOH溶液中的各向异性刻蚀特性,在相对Si(111)面切偏角为5°的单晶片上制作了1200gr/mm的真空紫外闪耀光栅。结合全息干涉曝光以及光刻胶灰化技术,在单晶硅表面得到了小占宽比的高质量光刻胶掩模,用湿法刻蚀将光栅掩模... 利用单晶硅在KOH溶液中的各向异性刻蚀特性,在相对Si(111)面切偏角为5°的单晶片上制作了1200gr/mm的真空紫外闪耀光栅。结合全息干涉曝光以及光刻胶灰化技术,在单晶硅表面得到了小占宽比的高质量光刻胶掩模,用湿法刻蚀将光栅掩模图形转移到单晶硅表面的天然氧化层上,并将其作为硅各向异性湿法刻蚀的掩模,成功获得了接近于理想锯齿槽形的闪耀光栅。用原子力显微镜分析光栅闪耀面,结果表明其表面均方根粗糙度约为0.2nm。在真空紫外波段对其进行衍射效率测量,发现光栅在135nm波长处显示出良好的闪耀特性。此方法可以应用于真空紫外和软X射线波段的光栅制作,在获得较高的槽形效率的同时,可以大大减少其制作难度及成本。 展开更多
关键词 闪耀光栅 单晶硅 各向异性湿法刻蚀 真空紫外 掩模
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掩模偏转方向对硅尖形状的影响 被引量:3
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作者 崔岩 石二磊 +1 位作者 夏劲松 王立鼎 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期1865-1869,共5页
为制备高纵横比的纳米硅尖,研究了掩模的偏转方向对硅尖形状的影响。设计了硅尖制备的工艺流程,采用KOH溶液湿法各向异性腐蚀(100)单晶硅的方法制备硅尖,根据实验结果和{411}晶面模型,分析了硅尖侧壁的组成晶面,讨论了掩模偏转方向对硅... 为制备高纵横比的纳米硅尖,研究了掩模的偏转方向对硅尖形状的影响。设计了硅尖制备的工艺流程,采用KOH溶液湿法各向异性腐蚀(100)单晶硅的方法制备硅尖,根据实验结果和{411}晶面模型,分析了硅尖侧壁的组成晶面,讨论了掩模偏转方向对硅尖形状的影响,得到了制备高纵横比纳米硅尖的工艺参数。实验结果表明:当腐蚀溶液浓度和温度一定时,正方形掩模的方向并不影响快腐蚀晶面的类型,利用正方形掩模的偏转,可以制备出八面体和四面体的硅尖。当正方形掩模边缘沿〈110〉晶向时,在78℃、浓度为40%的KOH溶液中腐蚀硅尖,经980℃干氧氧化3h进行削尖,可制备出纵横比>2的八面体纳米硅尖阵列,硅尖侧壁由与(100)面夹角为76.37°的{411}晶面组成。 展开更多
关键词 硅尖 各向异性 氧化削尖 掩模
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