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光学薄膜厚度实时在线监测系统的设计
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作者 金清理 黄晓虹 +2 位作者 张栋 王振国 颜利芬 《实验室研究与探索》 CAS 北大核心 2011年第9期8-11,共4页
为了实时监测光学薄膜的厚度,设计和制作了一款照明和采集干涉图谱为一体的石英光纤束探头,基于光学多道分析器、白色LED光源和计算机等设备组成,实现高精度监测薄膜厚度的测量系统。以薄膜等厚干涉原理为依据,分析了干涉相消波长测量... 为了实时监测光学薄膜的厚度,设计和制作了一款照明和采集干涉图谱为一体的石英光纤束探头,基于光学多道分析器、白色LED光源和计算机等设备组成,实现高精度监测薄膜厚度的测量系统。以薄膜等厚干涉原理为依据,分析了干涉相消波长测量薄膜厚度的原理与可行性。用汞灯标准谱线对光学多道分析器进行定标,通过自制的石英光纤束探头照明和采集干涉图谱,经光学多道分析器与计算机处理获得薄膜反射干涉相消光波长,计算得到光学薄膜厚度。测量系统通过对手机屏幕贴膜和不干胶薄膜样品的涂层厚度测试,可以监测纳米量级的薄膜厚度。 展开更多
关键词 光学多道分析器 二合一光纤束探头 薄膜厚度 等厚干涉原理 干涉相消波长
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