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光学薄膜厚度实时在线监测系统的设计
1
作者
金清理
黄晓虹
+2 位作者
张栋
王振国
颜利芬
《实验室研究与探索》
CAS
北大核心
2011年第9期8-11,共4页
为了实时监测光学薄膜的厚度,设计和制作了一款照明和采集干涉图谱为一体的石英光纤束探头,基于光学多道分析器、白色LED光源和计算机等设备组成,实现高精度监测薄膜厚度的测量系统。以薄膜等厚干涉原理为依据,分析了干涉相消波长测量...
为了实时监测光学薄膜的厚度,设计和制作了一款照明和采集干涉图谱为一体的石英光纤束探头,基于光学多道分析器、白色LED光源和计算机等设备组成,实现高精度监测薄膜厚度的测量系统。以薄膜等厚干涉原理为依据,分析了干涉相消波长测量薄膜厚度的原理与可行性。用汞灯标准谱线对光学多道分析器进行定标,通过自制的石英光纤束探头照明和采集干涉图谱,经光学多道分析器与计算机处理获得薄膜反射干涉相消光波长,计算得到光学薄膜厚度。测量系统通过对手机屏幕贴膜和不干胶薄膜样品的涂层厚度测试,可以监测纳米量级的薄膜厚度。
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关键词
光学多道分析器
二合一光纤束探头
薄膜厚度
等厚干涉原理
干涉相消波长
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职称材料
题名
光学薄膜厚度实时在线监测系统的设计
1
作者
金清理
黄晓虹
张栋
王振国
颜利芬
机构
温州大学物理与电子信息工程学院
出处
《实验室研究与探索》
CAS
北大核心
2011年第9期8-11,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(61078023)
文摘
为了实时监测光学薄膜的厚度,设计和制作了一款照明和采集干涉图谱为一体的石英光纤束探头,基于光学多道分析器、白色LED光源和计算机等设备组成,实现高精度监测薄膜厚度的测量系统。以薄膜等厚干涉原理为依据,分析了干涉相消波长测量薄膜厚度的原理与可行性。用汞灯标准谱线对光学多道分析器进行定标,通过自制的石英光纤束探头照明和采集干涉图谱,经光学多道分析器与计算机处理获得薄膜反射干涉相消光波长,计算得到光学薄膜厚度。测量系统通过对手机屏幕贴膜和不干胶薄膜样品的涂层厚度测试,可以监测纳米量级的薄膜厚度。
关键词
光学多道分析器
二合一光纤束探头
薄膜厚度
等厚干涉原理
干涉相消波长
Keywords
optical muhichannel analyzer
2-in-1 fiber bundle probe
thin film thickness
interference principle of equal thickness
destructive interference wavelengths
分类号
TP211 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
G642.0 [文化科学—高等教育学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
光学薄膜厚度实时在线监测系统的设计
金清理
黄晓虹
张栋
王振国
颜利芬
《实验室研究与探索》
CAS
北大核心
2011
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