一种变游程编码的测试数据压缩方法

随着集成电路制造工艺水平的提升和芯片面积的增加,测试需要越来越多的测试数据。测试压缩能够有效地减少测试数据量,降低测试数据存储容量和测试设备数据传输通道的要求,减少测试时间,降低测试成本。提出了一种有效的测试数据压缩编码,称之为AFDR码。该码直接对测试序列中连续的0、连续的1以及交替变化位的长度进行编码,对测试序列没有要求,更加直接有效。实验结果显示,这种编码能够有效地压缩测试数据。