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光学元件超声清洗工艺研究
被引量:
8
1
作者
王刚
马平
+2 位作者
邱服民
胡江川
鄢定尧
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第7期1761-1764,共4页
系统开展了光学元件超声清洗工艺的实验研究。通过研究超声清洗剂、清洗温度等工艺参数的优化,找到了能够有效祛除元件表面无机污染物和有机污染物的较佳超声清洗工艺,且超声清洗没有对光学元件表面产生损伤,清洗后的光学元件接触角小于...
系统开展了光学元件超声清洗工艺的实验研究。通过研究超声清洗剂、清洗温度等工艺参数的优化,找到了能够有效祛除元件表面无机污染物和有机污染物的较佳超声清洗工艺,且超声清洗没有对光学元件表面产生损伤,清洗后的光学元件接触角小于6°,并不残留大于1μm的颗粒,超声清洗对光学元件表面污染物的祛除能力远胜于手工清洗。
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关键词
超声清洗
接触角
粗糙度
原子力显微镜形貌
表面微观状况
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职称材料
题名
光学元件超声清洗工艺研究
被引量:
8
1
作者
王刚
马平
邱服民
胡江川
鄢定尧
机构
成都精密光学工程研究中心
出处
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第7期1761-1764,共4页
基金
国家高技术发展计划项目
文摘
系统开展了光学元件超声清洗工艺的实验研究。通过研究超声清洗剂、清洗温度等工艺参数的优化,找到了能够有效祛除元件表面无机污染物和有机污染物的较佳超声清洗工艺,且超声清洗没有对光学元件表面产生损伤,清洗后的光学元件接触角小于6°,并不残留大于1μm的颗粒,超声清洗对光学元件表面污染物的祛除能力远胜于手工清洗。
关键词
超声清洗
接触角
粗糙度
原子力显微镜形貌
表面微观状况
Keywords
ultrasonic cleaning
contact angle
roughness
afm contour
surface morphology
分类号
TG356.28 [金属学及工艺—金属压力加工]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
光学元件超声清洗工艺研究
王刚
马平
邱服民
胡江川
鄢定尧
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012
8
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