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基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试 被引量:2
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作者 赵步云 管杰 戴昌培 《电子工业专用设备》 2005年第8期37-42,共6页
介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。
关键词 高速数模转换器芯片 任意波型产生器/模拟捕捉器 数模混合信号芯片测试
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