期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
H_2O对OLEDs寿命影响的探讨 被引量:2
1
作者 沈吉明 《光电子技术》 CAS 2004年第3期169-170,173,共3页
根据 Alq3 +的不稳定性模型 ,通过水分子的电离产生 OH-,然后在 Alq3 层中引入Alq3 + 陷阱的方法 ,分析了器件中水气的存在对器件寿命的影响 ,表明当 OLEDs内水浓度达到一定值时 ,才会对 OLEDs寿命产生显著影响 ,而且寿命与 H2 O的浓度... 根据 Alq3 +的不稳定性模型 ,通过水分子的电离产生 OH-,然后在 Alq3 层中引入Alq3 + 陷阱的方法 ,分析了器件中水气的存在对器件寿命的影响 ,表明当 OLEDs内水浓度达到一定值时 ,才会对 OLEDs寿命产生显著影响 ,而且寿命与 H2 O的浓度成反比 ,与电场强度的指数成反比。 展开更多
关键词 电离 ^alq3^+陷阱 寿命
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部