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H_2O对OLEDs寿命影响的探讨
被引量:
2
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作者
沈吉明
《光电子技术》
CAS
2004年第3期169-170,173,共3页
根据 Alq3 +的不稳定性模型 ,通过水分子的电离产生 OH-,然后在 Alq3 层中引入Alq3 + 陷阱的方法 ,分析了器件中水气的存在对器件寿命的影响 ,表明当 OLEDs内水浓度达到一定值时 ,才会对 OLEDs寿命产生显著影响 ,而且寿命与 H2 O的浓度...
根据 Alq3 +的不稳定性模型 ,通过水分子的电离产生 OH-,然后在 Alq3 层中引入Alq3 + 陷阱的方法 ,分析了器件中水气的存在对器件寿命的影响 ,表明当 OLEDs内水浓度达到一定值时 ,才会对 OLEDs寿命产生显著影响 ,而且寿命与 H2 O的浓度成反比 ,与电场强度的指数成反比。
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关键词
电离
^
alq
3
^+陷阱
寿命
下载PDF
职称材料
题名
H_2O对OLEDs寿命影响的探讨
被引量:
2
1
作者
沈吉明
机构
中国电子科技集团公司第五十五研究所
出处
《光电子技术》
CAS
2004年第3期169-170,173,共3页
文摘
根据 Alq3 +的不稳定性模型 ,通过水分子的电离产生 OH-,然后在 Alq3 层中引入Alq3 + 陷阱的方法 ,分析了器件中水气的存在对器件寿命的影响 ,表明当 OLEDs内水浓度达到一定值时 ,才会对 OLEDs寿命产生显著影响 ,而且寿命与 H2 O的浓度成反比 ,与电场强度的指数成反比。
关键词
电离
^
alq
3
^+陷阱
寿命
Keywords
ionization
^
alq
_
3
^+
trap
lifetime
分类号
TN312.8 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
H_2O对OLEDs寿命影响的探讨
沈吉明
《光电子技术》
CAS
2004
2
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职称材料
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