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基于扩展汉明码的BISR设计优化
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作者 沙亚兵 李文石 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2011年第12期92-95,共4页
BISR本质是自动实现电路内部纠错.为监督SARM中的176bit宽并行数据,提出一种基于扩展汉明码设计BISR电路的优化技术.将并行数据劈裂为两个模块,分别利用基于扩展汉明码的独立ECC,组建BISR架构.根据异或逻辑的可交换性,重排子运算项,建立... BISR本质是自动实现电路内部纠错.为监督SARM中的176bit宽并行数据,提出一种基于扩展汉明码设计BISR电路的优化技术.将并行数据劈裂为两个模块,分别利用基于扩展汉明码的独立ECC,组建BISR架构.根据异或逻辑的可交换性,重排子运算项,建立XOR-Tree可合并项的特征图,观察与提取可以共用的子运算项,借助这种"兼容"策略优化XOR-Tree,在TSMC 90nm工艺中满足了降低时延和面积的工程要求.仿真结果显示,时延与面积分别降低了约28%和约35%,功耗降低约36%.最终时延为1.5ns,面积为6 200μm2,功耗是0.54mW,表明了本优化方法的有效性. 展开更多
关键词 bisr ECC XOR-Tree 时延 面积 功耗
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一种新型纳米器件逻辑纠错专用集成电路架构 被引量:1
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作者 窦怀阳 薛晓勇 冯洁 《半导体技术》 CAS 北大核心 2020年第2期116-121,共6页
新型纳米器件被视为摩尔定律极限临近情况下CMOS技术的有力补充。为克服新型纳米器件缺陷率高的问题,提出了一种基于现场可编程纳米线互连(FPNI)架构的具有自修正能力的纠错(FT)专用集成电路(ASIC)架构FT-FPNI,这种架构适用于易出错的... 新型纳米器件被视为摩尔定律极限临近情况下CMOS技术的有力补充。为克服新型纳米器件缺陷率高的问题,提出了一种基于现场可编程纳米线互连(FPNI)架构的具有自修正能力的纠错(FT)专用集成电路(ASIC)架构FT-FPNI,这种架构适用于易出错的纳米器件逻辑门电路。使用基于硬件描述语言的缺陷注入技术来仿真架构,仿真结果表明,这种架构可以100%检测缺陷和错误。为取得最小的纠错代价,需要保持尽可能小的单元阵列尺寸。Hspice软件仿真结果表明,碳纳米管或非(NOR)门输出延迟为2.89 ps,平均功耗为6.748 pW,与现有CMOS技术相比功耗降低2个数量级。 展开更多
关键词 内嵌自修复(bisr) 现场可编程纳米线互连(FPNI) 纳米器件逻辑 碳纳米管场效应管(CNTFET) 电路纠错
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双足溜冰机器人动力学 被引量:2
3
作者 徐子力 吕恬生 +1 位作者 宋立博 徐振华 《上海交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第8期1282-1286,1291,共6页
利用轮滑原理,研制出双足从动轮式溜冰机器人(BISR).根据机器人双足不离地滑行的步态特点,提出了机器人的简化动力学模型,并运用非完整约束存在时的Maggi方程,推导出机器人双足不离地滑行时的动力学微分方程.仿真算例和样机实验证明了... 利用轮滑原理,研制出双足从动轮式溜冰机器人(BISR).根据机器人双足不离地滑行的步态特点,提出了机器人的简化动力学模型,并运用非完整约束存在时的Maggi方程,推导出机器人双足不离地滑行时的动力学微分方程.仿真算例和样机实验证明了所提出的动力学建模方法的合理性. 展开更多
关键词 双足溜冰机器人 动力学 非完整约束 Maggi方程
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嵌入式存储器修复技术研究 被引量:1
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作者 杨斌 王小力 李栋 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2015年第5期63-67,共5页
为了克服嵌入式存储器故障对整个SOC系统的影响,采用基于存储冗余单元的嵌入式存储器软修复技术.针对软修复技术修复符号信息易丢失的缺点,使用e-fuse box保存修复信息的硬修复技术.通过比较separated fuse-box与centralized fuse-box... 为了克服嵌入式存储器故障对整个SOC系统的影响,采用基于存储冗余单元的嵌入式存储器软修复技术.针对软修复技术修复符号信息易丢失的缺点,使用e-fuse box保存修复信息的硬修复技术.通过比较separated fuse-box与centralized fuse-box电路结构的优缺点,提出了含有reg_bank模块的centralized fuse-box电路结构,从而节省了芯片的面积,提高了解压缩修复的速度.实验证明,该fuse-box结构所占芯片面积相对separated fuse-box结构所占的芯片面积节省47.88%.而该fuse-box结构相对传统centralized fuse-box结构,其修复信息的解压缩修复时间减少为centralized fuse-box结构解压缩修复时间的26.91%.研究得出的结论已经在实际产品中获得验证,可广泛应用于SOC设计. 展开更多
关键词 内自建测试 内自建软修复 内自建硬修复 e-fuse BOX
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Study and Development of the Biped Ice Skating Robot with Passive Wheels
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作者 徐子力 吕恬生 +2 位作者 田华 徐振华 宋立博 《Journal of Shanghai Jiaotong university(Science)》 EI 2007年第6期780-786,共7页
A new passive wheel type of biped ice-skating robot(BISR)which was able to imitate human skating motion was developed. Firstly, the characteristics of two types of human skating gait were introduced; secondly, after s... A new passive wheel type of biped ice-skating robot(BISR)which was able to imitate human skating motion was developed. Firstly, the characteristics of two types of human skating gait were introduced; secondly, after simplifying the kinematical model, the BISR's motion principle was presented; then the construction and control system of BISR were proposed; at last, the skating experiment of the BISR in a symmetric gait mode was conducted and some conclusions were drawn. 展开更多
关键词 BIPED ice-skating robot(bisr) GAIT plan KINEMATICS mapping control system
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嵌入式存储器的内建自修复设计 被引量:6
6
作者 吴志伟 邹雪城 +1 位作者 雷鑑铭 刘勇 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第2期79-81,84,共4页
目前,关于嵌入式存储器的内建自测试(MBIST)技术已经日趋成熟。基于这种背景,研究了一种高效的内建自修复(MBISR)方法,试验表明它具有低面积开销和高修复率等优点,保证了嵌入式存储器不仅可测,而且可修复,极大地提高了芯片的成品率。
关键词 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复
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一种3D IC TSV互连的内建自测试和自修复方法(英文) 被引量:2
7
作者 王秋实 谭晓慧 +1 位作者 龚浩然 冯建华 《北京大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第4期690-696,共7页
提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV,根据测试结构,采用BISR电路配置TSV映射逻辑,有故障的TSV可被BISR电路采用TSV冗余修复。所提出的设计可减小TSV测试价格,并减少TSV缺陷... 提出一种检测和修复有缺陷TSV的内建自测试(BIST)和内建自修复(BISR)的方法。采用BIST电路测试TSV,根据测试结构,采用BISR电路配置TSV映射逻辑,有故障的TSV可被BISR电路采用TSV冗余修复。所提出的设计可减小TSV测试价格,并减少TSV缺陷引起的成品率损失。电路模拟表明,面积代价和时间代价是可接受的。 展开更多
关键词 三维集成电路 硅通孔 内建自测试 内建自修复 冗余
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SoC嵌入式存储器内建自修复方法 被引量:1
8
作者 秦盼 王健 +1 位作者 朱芳 焦贵忠 《计算机工程与科学》 CSCD 北大核心 2019年第10期1749-1754,共6页
嵌入式存储器的内建自测试及修复是提高SoC芯片成品率的有效办法。详细描述了存储器良率的评估方法,提出了一种基于Mentor公司Tessent工具的存储器修复结构。该结构采用了冗余修复及电可编程熔丝eFuse硬修复的方法,具有很好的通用性及... 嵌入式存储器的内建自测试及修复是提高SoC芯片成品率的有效办法。详细描述了存储器良率的评估方法,提出了一种基于Mentor公司Tessent工具的存储器修复结构。该结构采用了冗余修复及电可编程熔丝eFuse硬修复的方法,具有很好的通用性及可行性,已多次应用在实际项目中。 展开更多
关键词 SOC 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复
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高效内建冗余分析技术的研究
9
作者 高秀才 戴紫彬 +1 位作者 张立朝 章轶 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2014年第7期2044-2047,共4页
传统BIRA结构存在多次地址比较的问题,严重影响了存储器的修复速度与读写性能。为了解决这一问题,提出了基于布鲁姆过滤器的BIRA技术。新型BIRA结构在传统结构的基础上增加了一个布鲁姆过滤器,通过减少地址比较次数来达到提高存储器修... 传统BIRA结构存在多次地址比较的问题,严重影响了存储器的修复速度与读写性能。为了解决这一问题,提出了基于布鲁姆过滤器的BIRA技术。新型BIRA结构在传统结构的基础上增加了一个布鲁姆过滤器,通过减少地址比较次数来达到提高存储器修复速度和访问速度的效果。实验结果表明,在相同故障地址数目的前提下,该方法比传统BIRA和地址分割BIRA的比较次数要低很多,验证了新型BIRA结构的高效性。 展开更多
关键词 内建冗余分析 内建自修复 布鲁诺过滤器 地址比较 哈希函数
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Repair the faulty TSVs with the improved FNS-CAC codec
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作者 Wei Chen Cui Xiaole +2 位作者 Cui Xiaoxin Feng Xu Jin Yufeng 《The Journal of China Universities of Posts and Telecommunications》 EI CSCD 2021年第2期1-13,共13页
Through-silicon via(TSV)is a key enabling technology for the emerging 3-dimension(3 D)integrated circuits(ICs).However,the crosstalk between the neighboring TSVs is one of the important sources of the soft faults.To s... Through-silicon via(TSV)is a key enabling technology for the emerging 3-dimension(3 D)integrated circuits(ICs).However,the crosstalk between the neighboring TSVs is one of the important sources of the soft faults.To suppress the crosstalk,the Fibonacci-numeral-system-based crosstalk avoidance code(FNS-CAC)is an effective scheme.Meanwhile,the self-repair schemes are often used to deal with the hard faults,but the repaired results may change the mapping between signals to TSVs,thus may reduce the crosstalk suppression ability of FNS-CAC.A TSV self-repair technique with an improved FNS-CAC codec is proposed in this work.The codec is designed based on the improved Fibonacci numeral system(FNS)adders,which are adaptive to the health states of TSVs.The proposed self-repair technique is able to suppress the crosstalk and repair the faulty TSVs simultaneously.The simulation and analysis results show that the proposed scheme keeps the crosstalk suppression ability of the original FNS-CAC,and it has higher reparability than the local self-repair schemes,such as the signal-switching-based and the signal-shifting-based counterparts. 展开更多
关键词 through-silicon via(TSV) build-in self-repair(bisr) crosstalk avoidance code(CAC) Fibonacci number
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