扫描近场声显微镜用于光盘表面薄膜结构的研究

介绍了一种将超声检测技术与扫描探针显微技术相结合的扫描近场声显微镜(SNAM),并利用该装置对CD-R光盘表面薄膜进行了检测,得到了其平整印刷面的SNAM图像,与原子力显微镜(AFM)测得的凹槽数据面形貌吻合。文中介绍了这种SNAM的结构、基本工作原理和检测方法,并给出了具体的实验结果。

可录CD无机存储介质──AgO_x的研究

本文研究了AgOx薄膜的光学性能、分解过程和记录特性．研究表明，在氩气分压为0.67Pa和氧气分压为2.0Pa的条件下，反应溅射制备的AgOx薄膜是非晶态的，在400℃热处理时，完全分解为Ag;本文成功地对AgOx薄膜进行了静态写入实验，AgOx有望成为一种新的CD－R存储介质．

聚对二甲苯膜对CD-R光盘保护性能的实验研究

本文以聚对二甲苯膜作为保护材料,利用真空气相沉积的方法,在CD-R光盘的表面涂膜,然后,通过老化实验在酸、碱以及紫外光等不同的环境条件下,研究了聚对二甲苯膜对CD-R光盘的保护性能。结果表明,涂膜后的CD-R光盘耐酸性大幅提升;其耐碱性虽高于未涂膜的CD-R光盘,但仍易受到碱溶液侵蚀而导致印刷层脱落;聚对二甲苯膜不能提高CD-R光盘的抗紫外光能力。