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基于IEEE1149.7标准的CJTAG测试设计方法研究 被引量:12
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作者 陈寿宏 颜学龙 黄新 《电子技术应用》 北大核心 2013年第1期79-82,共4页
在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相... 在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,针对测试问题设计了CJTAG测试控制器,实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定,能够控制待测芯片实现相应的测试功能,取得了较好的测试效果。 展开更多
关键词 IEEE 1149 7 cjtag 测试控制器 边界扫描
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IEEE 1149.7 CJTAG IP核复位与选择单元模块设计
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作者 侯杏娜 陈寿宏 +1 位作者 马峻 何正亮 《电子测量技术》 2017年第11期52-55,共4页
在深入研究IEEE 1149.7标准基础上,针对测试问题,构建符合标准架构的测试目标芯片CJTAG IP核,重点介绍IP核中复位与选择单元(RSU)模块的设计实现。该模块主要实现了四大功能:确定芯片启动模式、产生复位信号、逃脱检测及选择序列产生、I... 在深入研究IEEE 1149.7标准基础上,针对测试问题,构建符合标准架构的测试目标芯片CJTAG IP核,重点介绍IP核中复位与选择单元(RSU)模块的设计实现。该模块主要实现了四大功能:确定芯片启动模式、产生复位信号、逃脱检测及选择序列产生、IP核在线或离线选择。基于Quartus II应用平台设计,通过ModelSim完成仿真验证。仿真结果表明,该复位与选择单元模块产生的信号符合IEEE1149.7标准规定,能够支持目标芯片IP核实现相应的测试功能。 展开更多
关键词 IEEE 1149.7 cjtag IP核 复位与选择单元
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基于CJTAG的互联信号完整性测试 被引量:1
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作者 黄凤彩 颜学龙 《电子科技》 2012年第8期26-28,共3页
随着IP核在片上系统中的大量使用,IP核间的互连总线大量增加,引发信号完整性问题,同时传统的串型扫描拓扑结构,已不能满足测试系统发展所要求的任务,IEEE 1149.7标准提出了包含支持3种拓扑结构的TAP.7接口规范。文中提出了基于CJTAG互... 随着IP核在片上系统中的大量使用,IP核间的互连总线大量增加,引发信号完整性问题,同时传统的串型扫描拓扑结构,已不能满足测试系统发展所要求的任务,IEEE 1149.7标准提出了包含支持3种拓扑结构的TAP.7接口规范。文中提出了基于CJTAG互联信号完整性测试方法,重点对此TAP.7接口转换器进行了设计,通过系统级测试具有良好的应用前景。 展开更多
关键词 串型扫描 cjtag TAP.7接口 信号完整性
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基于权限管理的SoC安全芯片调试系统设计
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作者 刘海亮 吕辉 杨万云 《集成电路与嵌入式系统》 2024年第11期86-90,共5页
针对SoC安全芯片的JTAG/cJTAG接口在产品化阶段没有关闭存在恶意被攻击风险,或通过OTP/eFuse简单的永久关闭JTAG/cJTAG接口导致量产阶段客户问题定位困难,或CPU指针跑飞后调试手段受限而很难定位等问题,本文设计了一种基于权限管理的So... 针对SoC安全芯片的JTAG/cJTAG接口在产品化阶段没有关闭存在恶意被攻击风险,或通过OTP/eFuse简单的永久关闭JTAG/cJTAG接口导致量产阶段客户问题定位困难,或CPU指针跑飞后调试手段受限而很难定位等问题,本文设计了一种基于权限管理的SoC安全芯片调试系统,相比传统调试方式,本文做了两方面修改:针对JTAG/cJTAG调试方式,在传统调试方法上增加了权限控制位设计、校验密码设计、权限比对设计;针对UART调试方式,在保留传统调试方法的基础上增加了UART访问寄存器总线设计,并可以通过OTP/eFuse关闭UART访问寄存器功能。此调试系统既为SoC芯片CPU挂起、指针跑飞等提供问题分析手段,又为SoC芯片量产阶段提供安全又方便的JTAG/cJTAG调试手段。 展开更多
关键词 权限管理 SOC 调试技术 JTAG/cjtag OTP UART
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基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究 被引量:2
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作者 颜学龙 何正亮 陈寿宏 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2016年第12期71-74,79,共5页
以CJTAG标准和JTAG标准为依据,在深入研究这两个标准的基础上,利用Quartus II开发平台和Verilog HDL语言设计了多TAPC结构,并用Modelsim进行仿真验证,结果表明多TAPC结构能够有效地对多TAPC芯片进行测试和调试.
关键词 cjtag标准 JTAG标准 多TAPC结构
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基于IEEE1149.7的新一代测试接口实现与应用 被引量:6
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作者 徐志磊 郭筝 《信息技术》 2010年第8期164-166,169,共4页
随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD1149.1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统... 随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG(IEEE STD1149.1)面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统的要求。CJTAG用更少的管脚来提供更多的功能,而同时保证了对IEEE1149.1的软件和硬件的兼容性。 展开更多
关键词 cjtag接口 IEEESTD1149.7 JTAG接口 IEEESTD1149.1
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