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题名LED对MM和HBM静电放电敏感性的研究
被引量:2
- 1
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作者
涂辛雅
季军
郑益民
潘建根
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机构
浙江省半导体照明测试系统工程技术研究中心
杭州远方仪器有限公司
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第11期894-899,共6页
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文摘
为研究机器模式(MM)及人体模式(HBM)静电放电试验对LED特性的影响,参考国际标准对半导体元件的静电放电测试要求,对LED样品分别进行MM及HBM静电放电试验。每次静电测试前后均对样品进行光电参数测试,观察样品光电参数的变化,并以此作为判别LED失效的依据。通过实验,研究对比MM静电放电和HBM静电放电试验对LED特性的影响,并从理论上探讨了相关失效机理。实验表明无论是MM静电放电还是HBM静电放电,均会造成LED反向漏电流增大,正向I-V特性"收缩",光通量一定程度的衰减。但是在静电敏感电压上有差别较大,MM静电失效电压远低于HBM静电失效电压。
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关键词
静电放电
机器模式
人体模式
发光二极管
反向漏电流
光通量
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Keywords
electrostatic discharge(ESD)
machine model(mm)
human body model(HBM)
light emitting diode(LED)
reverse leakage current
luminous flux
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分类号
TN364.2
[电子电信—物理电子学]
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题名集成电路可靠性应用技术
被引量:2
- 2
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作者
闫立
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机构
记忆科技有限公司内存事业部研发处
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出处
《电子质量》
2005年第4期26-28,47,共4页
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文摘
本文主要论述集成电路加速寿命测试理论方法和IC常见失效模式。加速寿命测试包括定性高加速寿命HALT测试技术和定量加速寿命测试Arrheniusmodel等,该测试技术主要应用于IC设计前端识别失效模式和IC设计定型阶段估算IC正常使用条件下的寿命信息,及时有效的评估IC设计平均寿命;在电子产品制造系统中,常常有两种失效模式:ESD静电损伤和LATCH-UP失效现象,对以上可靠性指标和理论作简要的论述。
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关键词
电路可靠性
应用技术
失效模式
寿命测试
测试技术
IC设计
可靠性指标
理论方法
集成电路
HALT
正常使用
设计定型
平均寿命
制造系统
电子产品
失效现象
静电损伤
高加速
测试包
ESD
前端
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Keywords
Arrhenis model
Hallberg-Peck model
Coffin-Manson model
ESD(Electrostatic Discharge)
LATCH-UP
HBM (human-body model)
mm(machine model)
cdm(charged-device model)
Failure rate
MTTF
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
V443
[航空宇航科学与技术—飞行器设计]
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题名电子元器件静电放电模型及适用范围浅析
被引量:2
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作者
王文双
许少辉
王小强
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机构
国家通用电子元器件质量监督检验中心
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出处
《电子质量》
2005年第8期24-25,共2页
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文摘
静电损伤在电子元器件失效中一直是一个重要的失效模式,近几十年人们对电子元器件的抗静电损伤的研究中也建立了各种模拟实际环境的静电放电模型,本文将着重介绍最基本的三种针对电子元器件的静电模型的特征及静电敏感度划分。这三种基本静电模型是:人体放电模型、带电器件放电模型、机器放电模型。
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关键词
静电放电
人体模型
机器模型
带电器件模型
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Keywords
Electrostatic Discharge (ESD)
Human Body ModeI(HBM)
charged-device model (cdm) machine model(mm)
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分类号
TN606
[电子电信—电路与系统]
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