基于Chroma8000自动测试系统的测试技术浅析

介绍了自动测试系统的发展趋势,以及ATS开发平台Chroma8000系统的特点。阐述了OBCM的关键电气性能指标和测试方法。使用指数平均和移动平均的数据采集方法创建了基于Chroma8000的OBCM自动测试系统,解决了自动测试系统测试效率低、量测误差大的问题。工厂端大批量产品的测试结果证明,该系统是一个可实际使用的精确高效的自动测试系统。

小功率DC-DC模块的通用测试方法研究

介绍了一种通用的小功率DC-DC模块的测试方法。基于Chroma 8000测试平台,在大功率DC-DC模块测试方法的基础上,提供了一种简便的小功率DC-DC模块的通用测试方法。该方法极大地提升了新品小功率DC-DC模块测试的开发速度。

基于CHROMA和FPGA的芯片FT测试系统的研究

文章在分析芯片测试一般测试系统方案的基础上,以Chroma 8000商用测试机为例,提出加入FPGA作为测试机和芯片通信的中间桥梁的测试方案。对新的测试系统方案和一般系统方案简单对比,从而具体介绍新测试方案的组成、结构,阐述新方案在芯片测试各部分间的协调作用和具体的工作方式,分析该方案相对于一般测试方案的特性,并举例说明该方案测试SOC芯片的步骤。最后对该方案进行展望,简单说明该方案的应用前景。