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制备参数对磁控溅射CoSi_2薄膜织构的影响
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作者 常继 姜传海 +1 位作者 程凡雄 吴建生 《理化检验(物理分册)》 CAS 2005年第4期163-165,190,共4页
采用射频磁控溅射法溅射CoSi2合金靶材制备CoSi2薄膜,研究了制备参数对薄膜织构的影响。结果表明,CoSi2薄膜中存在(111)或(220)织构。织构的形成受溅射参数的影响。溅射功率越大,溅射气压越低,(111)织构越强烈。当基底温度增加时,织构... 采用射频磁控溅射法溅射CoSi2合金靶材制备CoSi2薄膜,研究了制备参数对薄膜织构的影响。结果表明,CoSi2薄膜中存在(111)或(220)织构。织构的形成受溅射参数的影响。溅射功率越大,溅射气压越低,(111)织构越强烈。当基底温度增加时,织构经历了先增强后减弱的过程。 展开更多
关键词 织构 cosi2薄膜 X射线衍射 磁控溅射
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