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三元缺陷化合物CuGa_3Te_5的热电性能
1
作者
任伟
孟庆森
+2 位作者
陈少平
孙政
崔教林
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第12期3129-3132,共4页
采用放电等离子烧结法(SPS)制备了三元缺陷化合物Cu Ga3Te5热电半导体,并分析研究了其结构和热电性能。XRD分析结果表明,该半导体为单相化合物Cu Ga3Te5,直接带隙宽度(Eg)约为1.0 e V。经热电性能测试分析,在717 K时Cu Ga3Te5的ZT值达...
采用放电等离子烧结法(SPS)制备了三元缺陷化合物Cu Ga3Te5热电半导体,并分析研究了其结构和热电性能。XRD分析结果表明,该半导体为单相化合物Cu Ga3Te5,直接带隙宽度(Eg)约为1.0 e V。经热电性能测试分析,在717 K时Cu Ga3Te5的ZT值达到最大值0.3。
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关键词
热电性能
缺陷化合物
CuGa3Te5
原文传递
题名
三元缺陷化合物CuGa_3Te_5的热电性能
1
作者
任伟
孟庆森
陈少平
孙政
崔教林
机构
太原理工大学
宁波工程学院
出处
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第12期3129-3132,共4页
基金
国家自然科学基金资助(51171084
50871056)
宁波市国际合作项目(2011D10012)
文摘
采用放电等离子烧结法(SPS)制备了三元缺陷化合物Cu Ga3Te5热电半导体,并分析研究了其结构和热电性能。XRD分析结果表明,该半导体为单相化合物Cu Ga3Te5,直接带隙宽度(Eg)约为1.0 e V。经热电性能测试分析,在717 K时Cu Ga3Te5的ZT值达到最大值0.3。
关键词
热电性能
缺陷化合物
CuGa3Te5
Keywords
thermoelectric properties
defect compound
cucaate5
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
三元缺陷化合物CuGa_3Te_5的热电性能
任伟
孟庆森
陈少平
孙政
崔教林
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014
0
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