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三元缺陷化合物CuGa_3Te_5的热电性能
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作者 任伟 孟庆森 +2 位作者 陈少平 孙政 崔教林 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2014年第12期3129-3132,共4页
采用放电等离子烧结法(SPS)制备了三元缺陷化合物Cu Ga3Te5热电半导体,并分析研究了其结构和热电性能。XRD分析结果表明,该半导体为单相化合物Cu Ga3Te5,直接带隙宽度(Eg)约为1.0 e V。经热电性能测试分析,在717 K时Cu Ga3Te5的ZT值达... 采用放电等离子烧结法(SPS)制备了三元缺陷化合物Cu Ga3Te5热电半导体,并分析研究了其结构和热电性能。XRD分析结果表明,该半导体为单相化合物Cu Ga3Te5,直接带隙宽度(Eg)约为1.0 e V。经热电性能测试分析,在717 K时Cu Ga3Te5的ZT值达到最大值0.3。 展开更多
关键词 热电性能 缺陷化合物 CuGa3Te5
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