-
题名两种铜基触头材料的电弧侵蚀性能研究
被引量:19
- 1
-
-
作者
孙财新
王珏
严萍
-
机构
中国科学院电工研究所
中国科学院电力电子与电气驱动重点实验室
中国科学院研究生院
-
出处
《高压电器》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第1期82-89,共8页
-
文摘
电接触材料在工作过程中会受到机械磨损、环境腐蚀及电弧侵蚀,其中,电弧侵蚀对电接触材料影响最大,它是影响接触材料的电寿命和可靠性的最重要因素。笔者对采用熔渗法制备的CuCr50与电弧法制备的CuCr45电接触材料分别进行DC 50 V,20、30、40、50 A的电接触试验,并通过扫描电镜观察材料在电弧侵蚀后的形貌,对这两种材料在直流、阻性负载条件下的电弧侵蚀特征进行对比研究。结果表明,CuCr45与CurCr50在DC 50 V,20、30、40、50 A条件下,材料都由阳极向阴极转移;之后归纳出电弧侵蚀后两种材料的表面形貌特征,最后分析了两种材料的燃弧能量与熔焊力。
-
关键词
电接触材料
熔渗法
CuCr50
电弧法
cucr45
电弧侵蚀
形貌特征
-
Keywords
electrical contact materials
infiltration sintering
CuCr50
arc sintering
cucr45
arc erosion
surface morphology
-
分类号
TM24
[一般工业技术—材料科学与工程]
-