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裸芯片的IDDQ测试筛选方法研究
1
作者
刘林春
《电子质量》
2007年第6期35-37,共3页
IDDQ测试在裸芯片的测试筛选中非常有用,为了获得更高质量与可靠性的产品,许多公司在CMOS生产线中引入了IDDQ测试筛选技术,现在IDDQ测试筛选技术已经作为保证芯片可靠性的重要手段。本文介绍了IDDQ测试筛选技术的重要概念以及其在保证...
IDDQ测试在裸芯片的测试筛选中非常有用,为了获得更高质量与可靠性的产品,许多公司在CMOS生产线中引入了IDDQ测试筛选技术,现在IDDQ测试筛选技术已经作为保证芯片可靠性的重要手段。本文介绍了IDDQ测试筛选技术的重要概念以及其在保证裸芯片可靠性方面的重要作用,并对深亚微米器件中的IDDQ测试筛选方法做了重点介绍。
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关键词
IDDQ
裸芯片
筛选
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职称材料
题名
裸芯片的IDDQ测试筛选方法研究
1
作者
刘林春
机构
广东工业大学材料与能源学院
出处
《电子质量》
2007年第6期35-37,共3页
文摘
IDDQ测试在裸芯片的测试筛选中非常有用,为了获得更高质量与可靠性的产品,许多公司在CMOS生产线中引入了IDDQ测试筛选技术,现在IDDQ测试筛选技术已经作为保证芯片可靠性的重要手段。本文介绍了IDDQ测试筛选技术的重要概念以及其在保证裸芯片可靠性方面的重要作用,并对深亚微米器件中的IDDQ测试筛选方法做了重点介绍。
关键词
IDDQ
裸芯片
筛选
Keywords
IDDQ
dare die
Screeing
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
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题名
作者
出处
发文年
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1
裸芯片的IDDQ测试筛选方法研究
刘林春
《电子质量》
2007
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