一种用于测试数据压缩的自适应EFDR编码方法

该文提出一种用于测试数据压缩的自适应EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码方法。该方法以EFDR编码为基础,增加了一个用于表示后缀与前缀编码长度差值的参数N,对测试集中的每个测试向量,根据其游程分布情况,选择最合适的N值进行编码,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,且不同N值下的编码码字均可使用相同的解码电路来解码,因此解码电路具有较小的硬件开销。对ISCAS-89部分标准电路的实验结果表明,该方法的平均压缩率达到69.87%,较原EFDR编码方法提高了4.07%。

一种用于测试数据压缩的改进型EFDR编码方法

针对集成电路测试中测试数据量过大的问题,提出一种改进型EFDR编码压缩方法。该方法保留了原EFDR编码中可同时对0游程和1游程编码的优点,同时将相邻组别游程的编码长度之差缩减为1位,使游程的编码长度更符合游程在实际测试数据中的出现频率,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,因此解码电路具有较小的硬件开销。实验结果表明,本方法的平均压缩率为68.01%,在保持较小硬件解码开销的同时,具有较高的测试数据压缩率。

基于EFDR编码压缩的非确定位填充算法

针对EFDR编码算法中非确定位填充算法的不足,提出了一种基于EFDR编码压缩算法的非确定位填充算法(ESA)。该算法在填充测试数据中的非确定位时,依据EFDR编码算法的特点,考虑非确定位两边确定位的特征以及非确定位游程自身的特点,对非确定位采用全0填充、全1填充和分块填充三种方法,从而提高了EFDR编码压缩算法的压缩效率并减少了测试时间,同时由于算法仅对测试数据的非确定位进行操作,不会增加测试的物理开销。实验结果表明,在不增加测试功耗和测试硬件开销的情况下,实现了EFDR编码压缩算法压缩效率的提高和测试时间的减少。

长度折半的测试资源编码方法

编码方法通过压缩原始测试数据达到减少测试数据量的目的,是解决集成电路测试过程中测试数据量快速增长的有效方法之一。提出一种新的长度折半的测试数据编码方法,该方法首先对测试数据同时按0游程和1游程进行划分,然后对划分进行长度折半,编码。该方法既减少了编码的游程数量,又减少了编码的游程长度,可以在不增加代码长度的情况下增加能编码的游程长度。理论分析证明该方法具有极高的压缩效率,同时该方法解压结构简单,且独立于测试数据。实验结果表明:该方法平均压缩率达到65.13%。因此该方法具有很高的性价比,具有一定的应用价值。

一种基于相邻位异或运算的测试数据压缩方法

压缩测试数据是降低测试成本的一种非常有效的手段。提出了一种基于相邻位异或运算的测试数据压缩方法,该方法通过将当前位与其前一位进行异或运算,将测试集中0游程和1游程转换成0游程,01和10交替序列转换成1游程,对转换后的游程进行编码。该方法可以减少测试集划分数量;也可以增加最短可编码的划分长度,即可编码的最短划分长度由传统的0变成2,从而达到在不额外增加解码电路硬件开销的前提下进一步提高压缩率。用实验验证了本方法具有极高的压缩效率。